

主要特點及優點
- 集成的C-V表適合于4200-SCS機架,用于電容(C)和電導(G)測量
- C-V測量和參數提取功能全面集成入的系統軟件
- 包含擴展的C-V測試庫和參數提取
- 無需外部基于GPIB的C-V測量儀器
- 集成的設計簡化了器件和材料特性分析
- 配置線性或自定義掃描具有多達4096個數據點
- 靈活的多頻測試信號,從10kHz到10MHz
- 既適合新款4200-SCS系統,也可用于為已有的系統升級
- 可選的附件包用于連接流行的分析探針
4200-CVU集成的C-V選件是吉時利不斷增長的可選的集成測試方案產品線的成員,用于4200半導體特性分析系統。這款新儀器直接集成到4200的一個插槽上,允許用戶將電容和電導測量功能集成到已有的功能強大的參數分析儀中。隨著4200-CVU的推出,4200-SCS現在為半導體測試用戶提供強大的靈活性,可以建立一個集成的解決方案,直流、脈沖和C-V測試能力,都包含在一個充分利用空間的機架、一個集成的測試環境中。的系統軟件“吉時利交互式測試環境”(KTEI, 7.0版),支持新款C-V儀器,讓4200-SCS用戶的C-V測量如直流測量一樣輕松。當前市場上的C-V測量方案中,4200-CVU擁有泛的C-V測試和分析庫支持。