非線性光學材料在熒光標記、生物成像、光限幅和光開關等領域發揮著重要作用。Z-掃描系統是研究材料非線性光學特性的有效手段，具有測量速度快、靈敏度高(參見融石英和CS2實例)和易維護等優點。
金鎧儀器的Z-Scan非線性光學測試系統可用于測量分析高分子、有機材料、納米粒子和半導體等材料的光學非線性特性, 包括非線性吸收（飽和吸收和反飽和吸收）、非線性折射和克爾效應等。 此外，針對不同尺度的復合納米粒子和微晶等材料，儀器的高靈敏性還適用于考察材料的形態、結構和濃度對非線性光學特性的影響。
主要參數
1. 適用激光光源
納秒、皮秒、飛秒激光光源；使用波長取決于用戶激光器
2. 樣品移動模塊
（全系列標配）移動距離300 mm，移動精度3.125μm
3. 適用樣品
溶液、薄膜；不同形態、尺寸和結構的納米材料和微晶等
4. 光強范圍
取決于所搭配的激光光源的參數（時間寬度和束腰半徑等）
5. 探測系統
標配快速響應的高靈敏度探測器：上升時間約35ns @320-1100nm
6. 隨機程序
標配數據自動化采集和預處理程序
應用實例
CS2
融石英
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某一鈣鈦礦材料開孔掃描和閉孔掃描的結果以及Ratio的曲線
其他可選配置
1. 激光光源
2. 光斑束腰半徑測量模塊
3. 完整數據處理軟件
4. 頻率選擇模塊
5. 光斑整形模塊
6. 光束指向穩定性模塊
7. 基于用戶特定需求的設備升級
