儀器詳情Particulars
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美國梅特勒-托利多 MS半微量分析天平采用單模塊傳感器(MonoBloc)，具有顯著的抗沖擊、抗過載性能，
同時確保準確的稱量結果。
美國梅特勒-托利多 MS半微量分析天平產品特點：
采用單模塊傳感器(MonoBloc)，具有顯著的抗沖擊、抗過載性能，同時確保準確的稱量結果
采用280MIPS處理器及72MHz總線速度，確保快速獲得稱量結果
清晰的高對比顯示屏(HCD)，輕松讀取稱量結果
動態圖形顯示(SmartTrac)，直接顯示天平已使用的稱量范圍
多達3個功能鍵(SmartKeys)，可直接調用預設的稱量應用程序
超大去皮鍵設計，便于用戶的稱量操作
1/10d可讀性縮位功能，快速獲得穩定稱量結果
菜單保護功能，避免天平設置被更改
全自動校準技術(FACT)，溫度漂移和時間觸發確保始終獲得準確的稱量結果
多級數字濾波和補償技術，優化天平在不同稱量條件下的操作性能
動態溫度補償，實時修正環境溫度波動對稱量結果的影響
易于使用的天平自維護功能，例如：鍵盤測試、重復性測試等
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儀器參數Technical data
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如需了解更多 美國梅特勒-托利多 MS半微量分析天平 技術參數或有任何疑問，請聯系中科匯儀網工作人員。
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美國梅特勒-托利多 MS半微量分析天平技術參數：
MS105 | MS105DU | MS205DU | |
可讀性 | 0.01mg | 0.01mg/0.1mg | 0.01mg/0.1mg |
稱量值 | 120g | 42g/120g | 82g/220g |
重復性(sd) | 0.04mg | 0.02mg/0.08mg | 0.02mg/0.08mg |
線性誤差 | 0.1mg | 0.15mg | 0.2mg |
秤盤尺寸[mm] | Φ80 | Φ80 | Φ80 |
秤盤上方有效高度[mm] | 225 | 225 | 225 |
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