SEM高溫疲勞試驗(yàn)機(jī)是帶掃描電子顯微鏡的疲勞試驗(yàn)機(jī)。用于在疲勞試驗(yàn)過程中動態(tài)時實(shí)觀測樣品表面的微觀破壞。可進(jìn)行拉-拉、拉-壓、三點(diǎn)彎曲疲勞試驗(yàn)及800℃以下的高溫試驗(yàn)。
特 點(diǎn):
· 電子顯微鏡SEM與試驗(yàn)機(jī)采用一體化結(jié)構(gòu),具有高防振效果。
· 可以在利用SEM觀察的同時,進(jìn)行裂紋擴(kuò)展觀察試驗(yàn)。
· 可以在常溫~800℃溫度范圍內(nèi),重復(fù)向樣品加載。
· 試驗(yàn)過程中,可以使SEM的視野與樣品的變形同步。