磁粉探傷機M1型磁粉標準試片
磁粉探傷時，磁化電流選擇是否正確，通常可以用兩種方法加以判斷：一是直接測試工件表面的磁場強度，二是用標準試片來判斷。標準試片可以用來正確選擇幾何形狀復雜，不同材質工件的磁化范圍，如A型標準試片，它是由一定純度的純鐵薄片制成，在其一側刻有一定深度的細槽，A型標準試片有三種規格。
標準試片是檢測時的器材，常見的標準試片分為人工缺陷標準試片和試塊及自然缺陷試塊。
標準試片的用途：標準試片是磁粉檢測的器材之一，具有以下用途：
標準試片用于檢驗磁粉檢測設備、磁粉和磁懸液的綜合性能（系統靈敏度）
標準試片用于了解被檢工件表面大致的有效磁場強度和方向以及有效檢測區。
標準試片用于考察所用的檢測工藝規程和操作方法是否妥當。
幾何形狀復雜的工件磁化時，各部位的磁場強度分布不均勻，無法用經工式計算磁化范圍，磁場方向也難以估計，這時將小而柔軟的標準試片帖在復雜工件的不同部位，可大致確定較理想的磁化范圍。
標準試片的分類
在日本使用A型和C型標準試片，在美國使用的標準試片稱為QQI質量定量指示器，在我國使用的有A型C型D型M1型四種標準試片片。
標準試片為DT4A超高純低碳純鐵經軋制而成的薄片，加工標準試片的材料包括經退火處理和未經退火處理的兩種。標準試片分類符號用大寫英文字母表示，熱處理狀態由下標的阿拉伯數字表示，經退火處理的為1型標準試片或缺，未經退火處理的為2.型標準試片號名稱中的分數中，分子表示人工缺陷槽的深度，分母表示試片的厚度，單位為um。
標準試片按熱處理狀態可分為：經退火處理的標準試片，和未經退火處理的標準試片。
標準試片按靈敏試等級可分為：高標準試片，中靈敏標準試片和低標準試片。
