TE2891 DV/DT試驗測試系統(tǒng)簡介

一．系統(tǒng)簡述

TE2891  DV/DT試驗測試系統(tǒng)一套集電容容量損耗測試、DV/DT值測試以及充放電試驗于一體的多功能電容測試設(shè)備，采用高電壓、大電流電源，運用的數(shù)據(jù)采集手段，不僅可以測量電容的DV/DT參數(shù)值，還能根據(jù)所得DV/DT值，設(shè)定沖放電試驗電壓、電流、試驗頻率、試驗次數(shù)等，進行符合電容國家標(biāo)準(zhǔn)的電容脈沖試驗。在試驗過程中實時檢測被測電容表面溫升，自動定期檢測被測電容容量及損耗并記錄相關(guān)數(shù)據(jù)，試驗過程中檢測被測電容容量及損耗超差或DV/DT試驗不合格將隨時中斷試驗并記錄試驗數(shù)據(jù)并給出測試報告。

二．系統(tǒng)功能描述

1、電容容量測試

測試電容容量、損耗等參數(shù)

2、電容DV/DT值測試

采用高電壓、大電流頻率較低方波電源，由于測量電容在單位時間內(nèi)上升的電壓值難以實現(xiàn)（要求電源功率較大，開關(guān)功率及速度難以實現(xiàn)），我們采用測量電容放電時的DV/DT值。通過示波器檢測電容器上的波形，由電腦系統(tǒng)分析并計算得該值，并打印出相應(yīng)充放電波形。

3、電容高頻沖放電試驗

根據(jù)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)，設(shè)定沖放電試驗的試驗電壓、電流、沖放電間隔時間（也即沖放電頻率）、沖放電次數(shù)后，系統(tǒng)會自動進行沖放電試驗。本試驗用于檢測該試件金屬化薄膜電容器元件在工藝流程中可能產(chǎn)生的缺陷，是金屬化薄膜電容器元件作沖擊試驗用的主要設(shè)備。

  4，被測電容表面溫升實時檢測, 在試驗過程按一定的時間間隔實時采樣電容器表面溫度

 
三．系統(tǒng)在試驗過程中或結(jié)束時可實時記錄相關(guān)數(shù)據(jù)并給出檢測報告（電容表面溫升，電容容量及損耗，DV/DT值）

 
四，技術(shù)指標(biāo):

試驗電壓：        DC    0～1000V

DV/DT測試頻率：10HZ(100nF～5μf)

                  100HZ(1nF～100nF)

充放電試驗頻率:   0.5KHZ、1KHZ、5KHZ三檔

充電電阻：        5Ω、30Ω、100Ω、300Ω、500Ω

放電電阻：        1Ω、2Ω、5Ω、10Ω、20Ω

不合格判別：      在測試脈沖周期內(nèi)低于試驗電壓80%,經(jīng)放電后被自動剔除。

實時檢測溫度：    0～100度

工作電源：        AC220V±10％、50Hz±10％、消耗功率約 1000W