華科智源結(jié)電容測試儀，可以測試MOS管，IGBT，SIC器件的柵極電阻和柵極電容，包含Ciss 輸入電容 Coss 輸出電容 Crss 反向電容，Rg等參數(shù)，可以單點(diǎn)測試，也可以掃描測試曲線；
品牌： 華科智源
名稱： 柵極電阻測試儀
型號： HUSTEC-CV-1200
用途： 測試MOS管結(jié)電容，Ciss 輸入電容 Coss 輸出電容 Crss 反向電容，Rg等參數(shù)
華科智源柵極電阻/電容測試儀
可測參數(shù)： Ciss/Coss/Crss/Rg MOS管結(jié)電容測試
可測器件： IGBT，二極管，氮化鎵、碳化硅 MOSFET 等
測試頻率：1MHz
測試電壓范圍：Vds 0~1200V，Vgs ±25V
信號電壓范圍：1mV~1000mV
Rg 范圍：≤300Ω
測試精度：0.01pf
華科智源柵極電阻/柵極電容測試儀特點(diǎn)：
1，測試速度快。
2，可點(diǎn)測和掃描曲線。
3，測試精度高，測試結(jié)果穩(wěn)定精準(zhǔn)。
4，可隨時保存數(shù)據(jù)和波形，可直接生成規(guī)格書用的圖片或 CSV 描點(diǎn)文件。
