Langer干擾發射探頭套組S603/S750介紹：
S603/S750的測量確保了測量的高重復性和可比性。可以使用 ChipScan-ESA 軟件進行測量。利用該軟件保存了所有被測點的測量結果。它允許系統地、快速地比較和分析測量數據。
Langer干擾發射探頭套組（IC測試系統）
品牌：Langer EMV-Technik
型號：S603/S750
基于IEC61967-4標準的傳導發射測量
Langer干擾發射探頭套組S603/S750介紹：
S603/S750的測量確保了測量的高重復性和可比性。可以使用 ChipScan-ESA 軟件進行測量。利用該軟件保存了所有被測點的測量結果。它允許系統地、快速地比較和分析測量數據。
Langer干擾發射探頭套組S603/S750配置:
1x S603, 1Ω高頻電流表 SMA
1x S750, 150Ω高頻電壓表 SMA
1x SMA-SMA 1 m, SMA-SMA 測量電纜
簡短的介紹：
S603 1Ω高頻電流表 SMA：用于直接測量集成電路引腳上的高頻電流。測量時，把它接到電源引腳（Vdd/Vss）或信號引腳上。1Ω高頻電流表擁有針腳觸點，借此可以接觸到并對單個的引腳并進行測量。
S750 150Ω高頻電壓表 SMA:高頻電壓表帶有150Ω的耦合電路，它根據IEC 61967-4測量集成電路引腳的高頻電壓。P750探頭具備高阻抗的電容耦合輸入，因此能夠測量受測物上不同引腳的射頻電壓。
