清和光學制作所SWIR-5200內部觀察顯微鏡SEIWA OPTICAL

清和光學制作所SWIR-5200內部觀察顯微鏡SEIWA OPTICAL

半導體內部觀察顯微鏡SWIR-5200，雙目體視顯微鏡，變倍雙目體視顯微鏡SKZ系列，SKZ-2(2+60+13+20+40-C)，SKZ-4（2+60+13+25-B+40-C），SKZ-1（2+60+13+20），SKZ-5（2+60+19-A），SKZ-6（2+60+13），測量顯微鏡SMJ-5，SMJ-7，SMJ-8，通孔鏡PC-2

產品介紹

半導體內部觀察顯微鏡SWIR-5200

半導體內部觀察顯微鏡

SWIR-5200 型，配備 1.3 兆 SWIR 相機這是一種

利用紅外光的透射和反射特性

來觀察硅晶片、芯片、MEMS 和 CSP 等半導體器件內部的

顯微鏡。搭載

配備1像素5μm、1.3MP的SONY IMX990的SWIR相機，

即使是近紅外圖像也能獲得高分辨率圖像。 ?使用

成像鏡筒和

針對近紅外1100-1700nm區域設計的PEIR物鏡系列，配合SWIR相機具有高靈敏度，即使在厚晶圓和高密度晶圓上也能獲得高對比度圖像。

?高功率A近紅外設置鹵素光源，即使使用100倍物鏡也能獲得明亮的圖像。

配備8英寸晶圓安裝臺，還可以提供防振臺和晶圓裝載機等選件。

雙目體視顯微鏡

變倍雙目體視顯微鏡SKZ系列

目鏡：SWF10X

物鏡：0.75X-4.5X（變倍比6:1）

總放大倍率：7.5X-45X

視場數：29.3mm-4.8mm

工作距離：90mm

變焦頭：45 ° 傾斜、360° 旋轉、屈光度調節、瞳孔寬度調節 50-75mm

焦點調節：微調 = 齒輪齒條式 50mm 操作

照明裝置：環形熒光照明裝置

*也可提供白色 LED 環形照明。

測量顯微鏡

體積小且易于操作的測量顯微鏡，讓您可以在狹小的空間內工作。

通孔鏡

通過自由改變PC-2

板內壁的視角，可以檢查小孔的內表面。

觀察表面時請使用可選照明。

您可以清楚地觀察安裝IC的電路板的焊接情況。