高精度X熒光光譜儀 MERAK-CEMII
鋼鐵/水泥/礦業全元素分析儀 (雙曲面彎晶 + 二次靶技術)
行業概況
• 鋼鐵水泥礦業對元素分析的需求
冶煉或燒結生產過程中，實時確定原料的化學成分和礦物組成，是率值配料的依據，也是產品質量的保證，因此元素含量分析是以成本效益的方式推動生產工藝控制的保證。然而，各類氧化物（Na2O、MgO、Al2O3、SiO2、SO2、CaO、Fe2O3等）含量分析，化學分析方法繁瑣、效率低，不能滿足實時配料、精確調整的要求。
• XRF在冶煉企業應用現狀
毫無疑問，近二十年來冶煉行業普遍采用的X射線熒光光譜儀極大提升了分析效率和精度，成為企業進行工藝和質量控制的主要分析手段。
但大型XRF不僅采購成本高，且維護維修成本高，在發生故障時，往往得不到及時維修，對企業實時質量控制帶來困難和壓力。安科慧生自主知識產權 研制的新一代高靈敏度X射線熒光光譜儀，具有高精度、小型化等特點，同時維護維修成本低，滿足現行標準要求，提升客戶對元素含量檢測的水 平。
• 革新性---單波長激發與二次靶兩項X射線熒光技術融合；
• 準確性---輕松滿足《GB/T176水泥化學分析方法》精度要求；
• 穩定性---整機無運動部件，結合光路固鎖系統，保證長期穩定運行；
• 經濟性---無需制冷、真空、鋼瓶氣體等，環境適應性強，運行費用低；
• HS XRF®與Fast FP帶來的改變
大幅降低企業成本
采購成本是大型XRF的二分之一，維護維修成本是大型XRF的五分之一。
廣適應性的精確算法
Fast FP精確計算了基體以及元素之間吸收增強效應，消除了不同原料主量元素差異造成的基體差異。
的售后支持體系
針對冶煉行業的實時控制需求，安科慧生提供遠程技術支持，快速現場應對。
設計
下照式設計
激發熒光自上而下照射樣品，避免樣品表面灰塵污染光路部件和探測器；
自旋裝置
樣品圍繞中心軸旋轉，X射線掃描樣品較大面積，消除樣品局部不均勻性造成的分析誤差；
樣品圍繞中心軸旋轉，X射線掃描樣品較大面積，消除樣品局部不均勻性造成的分析誤差；
自充氣光路吹掃系統
微型光路腔體，采用自充氣系統，幾秒鐘充氣即可得到穩定分析數據；
• 應用特點
穩定
開機1小時，即可得到穩定分析數據，連續測試、日間測試、長期測試均具有優良的重復性；
準確
基于基本參數法的軟件譜圖分析計算，消除樣品基體差異、譜線干擾帶來的分析誤差，僅需少數標準（定值）樣品，即可得到準確定量結果；
低耗
無需消耗氣體、液氮制冷、真空等，長期運行低故障率；
快速
60秒即可完成一個樣品全元素含量分析；
擴展性
可擴展分析各類材料樣品中從Na-Zn元素含量；
穩定性
• 重復性
• 目前幾類應用于該行業的X射線熒光光譜儀對比表
| 對比項 | 大型波譜儀（WD XRF） | 小型能譜儀（ED XRF） | 高靈敏度X射線熒光光譜儀 （HS XRF ®） | 說明 |
| 性能 | 高（滿足《GB/T 176-2017 水泥化學分析方法》標準要求） | 一般（在輕元素鈉、鎂、硫、氯等元素難以滿足《GB/T 176-2017 水泥化學分析方法》標準要求） | 高（滿足《GB/T 176-2017 水泥化學分析方法》標準要求） | 能夠精確分析鈉、鎂、鋁、硅、磷、硫、氯、鉀、鈣、鐵等元素，鋼鐵、水泥行業需求 |
| 投入成本 | 高 | 低 | 中 | |
| 維修成本 | 高 | 低 | 低 | X射線熒光光譜儀主要消耗和維修部件為光管、高壓電源、真空系統、電路系統等 |
| 日常消耗 | 高（需要亞甲烷氣體、真空系統） | 低（無需氣體） | 低（無需氣體和真空） | 耗電、氣體、真空 |
| 環境要求 | 苛刻（需要嚴格控制室溫、濕度、制冷等） | 低 | 低（對環境無苛刻要求） |
