微束涂層厚度和，方便快速進行質量控制和驗證測試，在幾秒內即可獲得準確的數據。
基于X-光熒光的涂層厚度和材料分析是業內廣泛接受認可的分析方法，提供易于使用、快速和無損的分析，幾乎不需要樣本制備，能夠分析元素周期表上從13Al 到92U 的固體或液體樣品。
應用
PCB / PWB 表面處理
控制表面處理工藝的能力決定線路板的品級、可靠性和壽命。根據IPC 4556和IPC 4552測量非電鍍鎳（EN，NiP）電鍍厚度和成分結構。日立分析儀器產品幫助您在嚴控的范圍內持續運營，確保高質量并避免昂貴的返工。
電力和電子組件的電鍍
零件必須在規格范圍內被電鍍，以達到預期的電力、機械及環境性能。 開槽的X-Strata和MAXXI系列產品 ，可以測量小的試片或連續帶狀樣品，從而達到 引線框架（引線框架）、連接器插針、線材和端子的上、中和預鍍層厚度的控制。
IC 載板
半導體器件越來越小巧而復雜，需要分析設備測量其在小區域上的薄膜。日立分析儀器的分析儀設計為可為客戶所需應用提供高準確性分析，及重復性好的數據。
服務電子制造過程 （EMS、ECS）
結合采購和本地制造的組件及涉及產品的多個測試點，實現從進廠檢查到生產線流程控制，再到最終質量控制。日立分析儀器的微焦斑XRF產品幫助您在全生產鏈分析組件、焊料和最終產品，確保每個階段的質量。
光伏產品
對可再生能源的需求不斷增加，而光伏在收集太陽能量方面扮演著重要的角色。有效收集這種能量的能力一部分取決于薄膜太陽能電池的質量。微束XRF可幫助保證這些電池鍍層的準確度和連貫性，從而確保率。
受限材料和高可靠性篩查
與復雜的供應鏈合作，驗證和檢驗從供應商處收到的材料至關重要。使用日立分析儀器的XRF技術，根據IEC 62321方法檢驗進貨是否符合RoHS和ELV等法規要求，確保高可靠性涂鍍層被應用于航空和軍事領域。
X-Strata 920 | MAXXI 6 | |
|---|---|---|
| ENIG | ★★☆ | ★★★ |
| ENEPIG | ★★☆ | ★★★ |
| 非電鍍鎳厚度和組成 (IPC 4556, IPC 4552) | 無 | ★★★ |
| 非電鍍鎳厚度 | ★★☆ | ★★★ |
| 浸鍍銀 | ★★☆ | ★★★ |
| 浸鍍錫 | ★★☆ | ★★★ |
| HASL | ★★☆ | ★★★ |
| 無鉛焊料（如 SAC) | ★☆☆ | ★★★ |
| CIGS | 無 | ★★★ |
| CdTe | 無 | ★★★ |
| 納米級薄膜分析 | 無 | ★★★ |
| 多層分析 | ★★☆ | ★★★ |
| IEC 62321 RoHS 篩選 | 無 | ★★★ |
耐腐蝕性
檢驗所用涂層的厚度和化學性質，以確保產品在惡劣環境下的功能性和使用壽命。輕松處理小緊固件或大型組件。
耐磨性
通過確保磨蝕環境中關鍵部件的涂層厚度和均勻度，預防產品故障。復雜的形狀、薄或厚的涂層和成品都可被測量。
裝飾性表面
當目標是實現無瑕表面時，整個生產過程中的質量控制至關重要。通過日立分析儀器的多種測試設備，您可以可靠地檢測基材，中間層和頂層厚度。
耐高溫
在條件下進行的零件的表面處理必須被控制在嚴格公差范圍內。確保符合涂鍍層規格、避免產品召回和潛在的災難性故障。
X-Strata 920 | MAXXI 6 | |
|---|---|---|
| Zn / Fe, Fe 合金 Cr / Fe, Fe 合金 Ni / Fe, Fe 合金 | ★★☆ | ★★★ |
| ZnNi / Fe, Fe 合金 ZnSn / Fe, Fe 合金 | ★★☆ | ★★★ |
| NiP / Fe NiP / Cu NiP / Al | ★★☆ (僅厚度) | ★★★ (厚度和成分) |
| Ag / Cu Sn / Cu | ★★☆ | ★★★ |
| Cr / Ni / Cu / ABS | ★★☆ | ★★★ |
| Au / Pd / Ni /CuZn | ★★☆ | ★★★ |
| WC / Fe, Fe 合金 TiN / Fe, Fe 合金 | ★★☆ | ★★★ |
| 納米級薄膜分析 | 無 | ★★★ |
| 多層分析 | ★★☆ | ★★★ |
| IEC 62321 RoHS 篩選 | 無 | ★★★ |
型號
憑借的分辨率和高效率 SDD，MAXXI 6 是測量涂層和痕量元素成分的理想儀器。MAXXI 6 具有多達6個主濾波器和8個準直器，能夠處理挑戰性的應用。巨大的開槽室設計是小、大或長樣本的理想選擇。優化的硬件配置可以直接分析化學鍍鎳應用中的%P。
X-Strata920 可被配置為三個不同的樣品臺配置，以應對各種不同的樣本形狀和尺寸。標準臺可以快速定位小或薄部件。加深臺基座有一個可移動托盤，可快速被配置，以搭配小或大零件（6英寸）。電動X-Y臺可自動分析多個樣品或一個樣品的多個位置。
- 正比計數器系統
- 元素范圍：鈦 - 鈾
- 樣品艙設計：開槽
- XY 軸樣品臺選擇： 固定臺、加深臺、自動臺
- 樣品尺寸：270 x 500 x 150毫米
- 數量準直器：6
- 濾波器：3
- 最小的準直器：0.01 x 0.25毫米(0.5 x10 mil)
- SmartLink 軟件
- 高分辨率 SDD
- 元素范圍： 鋁 - 鈾
- 樣品艙設計：開槽
- XY 軸樣品臺選擇：固定臺、自動臺
- 樣品尺寸：500 x 450 x 170毫米
- 數量的準直器：8
- 濾波器：5
- 最小的準直器： 0.05 x 0.05毫米(2 x 2 mil)
- SmartLink 軟件
