JIMA RT RC-05B是一款采用半導體光刻技術制作的微型分辨率測試卡。它用于校準和監控系統分辨率,確保微焦點或納米焦點X射線檢測系統獲得高質量的結果。JIMA RT RC-05B支持3微米至50微米(3 µ m至50 µ m)的分辨率。這對應于6微米和100微米(6 µ m和100 µ m)之間的焦斑尺寸。

16組I&T布局,2x2 mm,8x8 mm硅基,如上圖
下圖為尺寸為5 μm I&T的圖像

Au Slit的數量為3行和2個空格
寬度3至10 μm:T形布局
寬度15至50 μm:I形布局L/S寬度
L/S寬度:3、4、5、6、7、8、9、10、15、20、25、30、35、40、45、50 μm
JIMA RT RC-05B分辨率測試卡,JIMA分辨率測試卡實物拍攝圖:

