重慶四川供應TSI 3938E57納米掃描遷移率粒度分析儀

重慶四川供應TSI 3938E57納米掃描遷移率粒度分析儀產品詳情：

使用** 代1-nm顆粒尺寸將您的測量值調整到檢測極限 。30多年來，TSI的SMPS™光譜儀已被廣泛用作測量亞微米和低納米尺寸范圍內氣溶膠尺寸分布的標準。通過添加 Model 3757 Nano Enhancer 和 Model 3086差分遷移率分析儀 （1nm-DMA），現在可以高分辨率和高速度測量大小和數量濃度，并監測反應動力學和工程和天然氣溶膠顆粒的新粒子形成小至1納米。

1 nm SMPS系統結合了TSI在顆粒分類和計數方面的歷史優勢，采用新技術，可測量小至1 nm的顆粒。優化的Model 3086 DMA進一步降低了那些*小顆粒的擴散損失。在DMA和標準CPC之間，Model 3757 NanoEnhancer使用二甘醇預生長1 nm顆粒，以便CPC檢測。新的Nano Enhancer設計加強了CPC和Nano Enhancer之間的集成，使設置和系統使用變得更加容易。

結合這些組件，研究人員可以將粒子研究轉移到激動人心的新領 主要應用是：

大氣研究 - 監測新的粒子形成和動力學，云凝結，并縮小質譜儀與傳統粒度分布測量之間的差距。非常適合研究高污染城市中亞3nm粒子，粒子源和健康影響研究。

材料科學 - 通過可靠的近實時反饋監測和表征亞3 nm粒子。該系統非常適用于基于氣溶膠的工程納米粒子合成，納米粒子功能化，納米級分析化學，反應動力學控制和催化劑合成。

重慶四川供應TSI 3938E57納米掃描遷移率粒度分析儀產品性能優勢：

• 關于尺寸和數量濃度的快速，高分辨率數據
  • 針對*小擴散損失進行了優化
  • > 1至50 nm之間的109個通道
  • 通過添加3081A長DMA，能夠測量超過三十年的尺寸，從1 nm到1μm
• 模塊化組件設計，用于定制，以*好地滿足測量需求，例如單獨使用1nm CPC
• 內置診斷和系統組件自動檢測功能，可提供可靠且信譽良好的測量數據
• 易于設置和使用Aerosol Instrument Manager（AIM）軟件
• 謹慎的顆粒測量：適用于多模式樣品

1nm SMPS不僅僅是另一種能夠觀察到1nm的成核爆發的探測器; 它是一個完整的粒子光譜儀，可以顯示這些事件中存在的大小分布，具有****的分辨率。

組件的模塊化使您可以輕松定制系統，以*好地滿足您的測量需求：節省您的時間和**。如果您已擁有配置有3750 CPC的3938系列SMPS系統之一，則只需添加1nm-DMA和Nano Enhancer。您的分類器和上等中和器將保持不變，您將獲得*新版AIM軟件的 免費更新。

重慶四川供應TSI 3938E57納米掃描遷移率粒度分析儀產品應用：

• 基礎氣溶膠研究
• 研究粒子成核和粒子生長，來自粒子源，如火焰合成，激光燒蝕，火花產生和成核/冷凝
• 燃燒和發動機排氣研究，（有機燃料，亞3nm排放，天然氣發動機，塑料成型和焊接）
• 過濾研究
• 吸入或暴露室研究
• 健康影響研究

*特點和優點承擔SMPS譜儀包括： 3082分類，為1nm-DMA，型號3757納米增強 ， 以及3750型冷凝粒子計數器。

重慶四川供應TSI 3938E57納米掃描遷移率粒度分析儀