專為對貴重物品和靜止物體進行現場分析而設計
ARTAX是個商業化的便攜式微區 X 射線熒光光譜儀，設計用于滿足對貴重的物品如考古和藝術品進行現場成分分析的需求。
· 對材料的結構和組成進行非破壞性的微區多元素分析，分析元素范圍11Na-92U，空間分辨率達到70微米。
· 適用于用于現場對各種尺寸、形狀的樣品進行無損檢測。
· 模塊化的設計允許許多應用，文物保護、考古、刑偵以及商檢等領域。
· 第四代XFlash®SDD硅漂移探測器，采用帕爾貼冷卻技術， 不需要液氮，沒有任何消耗。分辨率優于165eV at MnKa 100Kcps。優于145eV分辨率探測器可選。
· 靈活的設計，樣品檢驗時可以不受空間、樣品尺寸限制。X-Y-Z 三維自動定位跟蹤樣品臺，防碰撞保護，可以自動完成點、線、面掃描功能。
· 配有各種靶材的低功率X射線光管、CCD相機、微聚焦多孔毛細管鏡、XYZ樣品臺、。
· 微聚焦多孔毛細管鏡與準直管相比強度提高1000倍以上。
· 根據應用要求不同，可提供多種配置。
ARTAX系統的核心部件是它的緊湊式的探測頭：
含有特殊設計的、fei常緊湊的，具有微聚焦X射線管；
毛細管聚焦光學系統產生一個高光強微區；
一個緊湊的，高分辨率，無氮且高速/低噪的XFlash® SD探測器；
的觀測、分析、采樣點定位系統。
快捷的X射線光管更換
測量頭由一個含有探測器單元、CCD相機和指示激光組成。位于旁邊的激發單元，由光管外殼、X射線光管、X射線光學系統組成，通過鎖緊固定，便于快速更換。這樣的設計，令用戶可以選擇合適的激發源或者靶材，也可以快速跟換X射線光學系統。
基于三腳架的便攜性
測量頭、電動馬達驅動X-Y-Z三向定位平臺和控制模塊都被安置于一具可移動的、減震三腳架上。這樣的設計使整個測量系統在工作時可以根據被測物的具體形狀和位置自由定位，同時駁斥重復性優于±10 μm。
輕質元素分析
ARTAX 具有氦氣保護系統，用于輕質元素的測量分析。使用氦氣保護，測量的范圍可以從在空氣中的Ti(22) 至 U(92) ，下降到 Na(11)。使用氦氣保護的額外的好處是，使得原本在真空中可能的樣品，避免受到傷害。輕質元素檢測性能，使得那些原本重要，卻不被重視的 元素得以被檢測到，如P(15), S(16) 和Cl(17) 以及 Al(13) 和 Si(14)等。
其它特性：
由于更加緊湊的測量頭設計的樣品測量距離，令樣品可接近性大大改shan；
接觸傳感器可避免藝術品的損壞
輻射防護：增加了一個基本功能，可以直接訪問的終止控制開關；
安quan措施，如額外的警告燈，安quan門聯鎖觸點，等；
輕質元素測量時，軟件可以實現氦氣流量控制；定位激光也可以實現軟件控制。
功能強大的ARTAX軟件--SPECTRA：
XRF軟件用于控制硬件功能，實現光譜采集和存儲；
元素識別，峰解譜功能，用于計算光譜---背景歸一以及峰凈面積計算；
強大的定性分析、定量計算功能；
報告和數據輸出功能
同時顯示100條光譜；
可以創建400萬條光譜的數據庫；
基于DCCR算法，進行定量計算（DCCR: Direct Comparison of Counting Rates）
匹配篩選功能，可以在庫軟件中篩選出相似譜線.文物保護、文物修復、考古、藝術品、筆跡鑒定、書畫、刑偵、材料研究、電子、汽車、航空航天等領域。
