介紹
程序簡便、操作可靠
您是否正在尋找一款能夠完成復雜任務、生成可靠檢測結果且易于操作的顯微鏡？那么用于偏光顯微觀察的智能型 Axio Imager 將是您的滿意之選。
不同種主機架可供選擇
編碼型、部分電動型或全電動型主機組合搭配，滿足您的個性化需求。
 
特點
自動組件識別技術值得信賴
自動組件識別（Automatic Component Recognition ACR）技術，使您方便的使用顯微鏡設置。所有電動主機架能夠自動識別物鏡。此外，ACR 技術還能在全電動 Z 系列主機中識別反射光模塊。系統能自動對組件的變換進行登記。
無振動設計確保可靠的長時間成像
借助 Axio Imager 出色的穩定性得以實現可隨時間變化的測量和高放大倍率觀察。物鏡轉盤、z 軸升降臺和載物臺被設計為一個緊湊式無振動單元，獨立于主機架的其余部分。這種所謂的 "stable cell" 結構設計能夠創建理想的測量條件，以獲得超高質量的觀測結果。
擴展功能令操作更舒適
簡化復雜程序。通過主機架或外置工作站上的觸摸屏來控制全部電動化組件。
保存個性化設置并實現一鍵還原。聚焦操作方便直觀 – 符合人體工程學設計的觸控式按鈕。
或者通過任意擺放的控制面板（可與主機架分離）來操作偏光顯微系統。觀察方式和光路管理器能夠自動選擇合適的設置，以生成可重現且可靠的觀測結果。
 
方法
錐光觀察技術：使用偏光顯微鏡可以實現快速可靠的晶體結構分析
偏光顯微鏡能夠同時采集無畸變的和錐光的圖像信息。采用特殊設計的偏光鏡筒通過輔助中間像平面可以使物體、十字準線和可變光闌同時可見。通過調節型可變光闌能夠將錐光觀測范圍縮小至最小 10μm 的晶體粒度。已對中的 Bertrａnd 光路方便開關。這一特性讓您在不同技術之間進行快速切換 – 甚至在采集圖像或使用視頻設備時。
 
始終如一的測量性能
借助可 360° 刻度和 0.1° 的游標尺的旋轉、球軸安裝式載物臺可以輕松實現測量，（例如：用于測量礦物的解理角）
光程差測定或應變測量
大量光譜補償器可選，涵蓋從 0 至 30 λ 的測量范圍。
 
固定光程差的補償器
全波片 λ
四分之一波片 λ / 4
全波片 λ，可旋轉角度 +/- 8°
 
具有可變光程差的補償器
光楔補償器 0-4 λ
測量補償器
- Berek 傾斜補償器 0-5 λ
- Berek 傾斜補償器 0-30 λ
 
Axio Imager 還可提供更多方法，例如：
熱顯微技術
使用蔡司 AxioVision 軟件進行數字分析（例如：晶粒度分析或顆粒度分析）