SJ5730系列高精度粗糙度輪廓一體測量儀采用超高精度納米衍射光學測量系統、超高直線度研磨級摩擦導軌、高性能直流伺服驅動系統、高性能計算機控制系統技術，實現對軸承及工件表面粗糙度和輪廓的高精度測量和分析。通過超高直線度研磨級摩擦導軌、高性能伺服驅動電機保證測量的超高穩定性及直線度，采用超高精度納米衍射光學轉軸測量系統及高精度直線光柵X軸建立工件表面輪廓的二維坐標，計算機采用高精度標定系統對采樣數據進行修正標定，最終還原出工件輪廓信息并以曲線圖顯示出來，通過軟件提供的分析工具可對輪廓及微觀輪廓進行各種粗糙度參數、輪廓參數分析。
可廣泛應用于精密機械加工、汽車、軸承、機床、模具、精密五金等行業, 該儀器可以對零件表面，尤其是大范圍曲面，如圓弧面和球面、異型曲面等進行檢測，是大曲面測量（軸承、人工關節、精密模具、齒輪、葉片、軸承滾子）領域精細粗糙度測量的利器。
產品優勢
專業軸承測量、高穩定、高精密
- 具有12mm~24mm的大量程粗糙度測量范圍，專業測試軸承內外側。可選專業軸承夾具和滾子分析，方便測試。
- 分辨率達到0.1nm，系統殘差小于3nm。
- 超高直線度研磨級摩擦導軌、特殊紅寶石轉軸系統提供轉動的超高靈敏度及測量精度。
- 高穩定的驅動設計，確保了驅動運行過程中不產生任何的振動及干擾，保障了系統掃描運動精度。
- 精度標定臺能對儀器的參數和測針針尖磨損進行修正補償，使其滿足高精度輪廓測量。
操作靈活、智能、簡單
- 輪廓和粗糙度一體測量，無需切換模塊。
- 測針一鍵拔插，特殊設計的高剛性拔插結構，無需鎖螺釘，方便快捷、穩定可靠。
- 各個運動軸都有進行硬件及軟件保護，降低人員因操作失誤帶來的測針及儀器損傷。
- 帶舵機結構，可防止掃描陡坡時的快速下墜。
- 智能恒測力系統，0.5-3mN 測力檔位可調，降低了測力變化引起的測量誤差，適合測量各類軟、硬性工件。
- 組合調節控制手柄可快速完成載物臺平移，X軸和Z軸定位，測桿上下擺動及速度分級調節功能。
- 根據GB/T、ISO、JIS等標準，自動評價粗糙度。
- 軟件操作界面簡潔直觀，任何人都能輕松設定和測量。
自動、批量、快速測量
- 對于簡單的工件只需要設置測量長度即可一鍵測量；
對于復雜的工件，可以工件的任意位置進行分段測量，并做成模板便于輪廓批量測量。 - CNC固定坐標系模式下，可快速精確地進行輪廓批量測量。
- 自動保存測量結果，測量完成后可輸出測量報告，形式多樣。
測量軟件
測量功能
- 創建坐標：點線、兩點 X、兩線等工件坐標系。
- 量測工具：矩形框選提取點、矩形框選提取點、矩形框選提取中心點、自動矩形取多點提取線、自動點捕捉取多點提取線、自動矩形提取螺紋中徑線、扇形框選提取弧/圓等。
- 構建特征：交點、中心點、角平分線、切線、兩線內切圓、二次取樣、垂線、平行線、特征偏移、兩圓弧內切圓、直線旋轉等。
- 可測幾何量：點、線、圓（圓心坐標、半徑、直徑）、圓弧、中心、角度、垂線、線到線的距離、線到圓的距離、X/Z坐標夾角、坐標差、兩點之間總過程距離、面積等。
- 形位公差：直線度、圓度、平行度、垂直度、同軸度、位置度、輪廓度等形位公差評定。
- 快速工具：坐標標注、兩線交點、兩線夾角、螺牙框選取交點標注、臺階高、滾珠絲桿、框選Pt、溝槽寬度、偏移點與輪廓相交直線、偏移直線與輪廓相交點、基邊/基點標準等特殊工具快速測量。
- 具備自動找拐點功能，能按照程序設置進行X軸自動找拐點。
- 表面粗糙度評定： R參數、P參數、W參數、核心粗糙度Rcore、Motif等微觀粗糙度參數。
- 支持公差設置、合格判定。
- 支持.cnc .xml .dxf 共3種格式的輪廓對比，如標準輪廓中有標注，可自動計算出對應標注結果。
- 支持輪廓掃描數據的修改，包括刪除異常點來進行分析。
- 支持多條記錄按照統一基準進行拼接分析功能。
- 支持輪廓特征、標注特征、形位公差的顏色自定義管理。
記錄管理功能
- 將所有測量記錄進行集中式管理。
- 按工件型號、工件名稱、檢測日期等進行檢測信息查詢。
- 可設置報表模板、批量導出Word、PDF、Excel報表和打印報告，批量統計。
數據輸出功能
1. 可輸出Word、PDF、Excel報表并預覽，可輸出掃描點文本文件txt、prf、dxf 文件。
2. 支持輪廓CNC批量實時輸出至excel 模版，可定制模版。
3. 輸出SPC分析報告，可輸出統計值（如CA、PPK、CPK、PP等）及控制圖（如均值與極差圖、均值與標準差圖、中位數與極差圖、單值與移動極差圖）。
4. 可以輸出客戶定義格式的Q-DAS文件。
典型應用
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軸承滾道Pt、Ra |
葉片表面Ra |
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齒輪齒面Ra |
模具輪廓、Ra |
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汽車零部件輪廓、Ra |
工件輪廓、Ra |
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軸承滾子分析 |
工件輪廓，圓度 |
技術參數
表1
| 型號 | SJ5730-100 | SJ5730-200 | ||
| 輪廓 | 測量范圍 | X軸 | 0~100mm | 0~200mm |
| 立柱 | 0~300mm | 0~500mm | ||
| Z軸 | ±6mm（標準測針桿）（±12mm：選擇兩倍測針桿時） | |||
| 分辨率 | 最小分辨率0.001μm | |||
| 測量精度 | Z1軸輪廓精度*1 | ≤±（0.5+0.03 H）μm（H，mm） | ||
| 標準球測量誤差*2 | ≤±1μm（R≤10mm）；≤±（0.17+R/12）μm（10 | |||
| 標準圓弧Pt精度*3 | Pt≤0.4μm | |||
| 角度精度*4 | ≤±1′ | |||
| 移動速度 | X軸 | 0~20mm/s | ||
| Z軸 | 0~20mm/s | |||
| 掃描速度（掃描軸） | 0.05～5mm/s | |||
| 直線度（掃描軸）*5 | ≤0.2μm/100mm | ≤0.35μm/200mm | ||
| 測量力 | 0.5mN、0.75mN、1mN、2mN、3mN（電子檔位可調） | |||
| 粗糙度 | 適用Ra測量范圍 | Ra0.012μm~Ra12.5μm（可選更大范圍） | ||
| 示值誤差*6 | Ra0.012μm ~ Ra3.2μm： ≤±(3nm+2.0%A)（A：測量Ra標稱值，μm） Ra3.201μm ~ Ra12.5μm： ≤±(3nm+3.5%A)（A：測量Ra標稱值， μm） | |||
| 重復性(1δ) *7 | 1δ≤1nm | |||
| 殘值噪聲*8 | Rq≤3nm | |||
| 粗糙度測量參數 | R粗糙度： Rp,Rv,Rz,Rc,Rt,Ra,Rq,Rsk,Rku,RSm,RPc,Rdq,Rdc,Rmr,Rmax,Rpm,tp,Htp,Pc,Rda,Ry,Sm,S,Rpc,RzJ； 核心粗糙度Rcore: Rk,Rpk,Rvk,Rpkx,Rvkx,Mr1,Mr2,A1,A2,Vo； P輪廓參數： Pa,Pq,Pt,Pz,Pp,Pv,PSm,Psk,Pku,Pdq,Pdc,Pc,PPc,Pmr,Rad,PzJ,Pmax； W波紋度輪廓參數： Wa,Wq,Wt,Wz,Wp,Wv,WSm,Wsk,Wku,Wdq,Wdc,Wmr,Wpc,Wc； Motif參數：R,AR,W,AW,Rx,Wx,Wte； 符合標準： GB/T 3505-2009，ISO 4287:1997，ISO13565-2:1996，ASME B46.1-2002, DIN EN ISO 4287:2010，JIS B 0601:2013，JIS B 0601-1994， | |||
| 濾波器 | 高斯濾波器、2RC濾波器，零相位濾波器 | |||
| 取樣長度 | 0.008、0.08、0.25、0.8、2.5、8.0、25mm可選 | |||
| 評定長度 | 可根據測量長度自動計算取樣長度的整數倍 | |||
| 滾子分析*9 | 滾子凸度、位置距離、對數滾子母線、X鏡像曲線重合度， | |||
| ? 電源/功率 | 100-240VAC,50/60Hz,100W | 100-240VAC,50/60Hz,130W | ||
| 儀器尺寸（長×寬×高） | 600×350×890（mm） | 800×500×1080（mm） | ||
| 儀器總重量 | 110kg | 180kg | ||
| 工作環境 | 溫度：20±5℃；相對濕度：10%~80%（無凝結）； 振動：振動速度均方根≤5μm/s，振動頻率8~100Hz；室內應無影響測量的灰塵、震動、噪音、氣流、腐蝕性氣體和較強磁場。 | |||
注：
*1：此精度指標以測量標準量塊為準。
*2：此精度指標以測量標準球且弧度超過90度為準。
*3：此精度指標以25mm以下標準球Pt測試為準。
*4：此精度指標以測量多面棱體角度為準。
*5：此精度指標以測量平晶為準。
*6：此精度指標以測量表面粗糙度比較樣塊為準。
*7：此重復性指標以0.1-0.2μm方波粗糙度樣塊、標準臺階塊測試結果為準。
*8：此精度指標以1nm級粗糙度樣塊、平晶測試為準。
*9：此計算參數僅支持選配滾子分析功能模塊。
