標準操作規程以及用于法規和常規分析的全面開發的方法，可為您節省數周的方法開發和文檔編制時間。
超高基質進樣系統 (UHMI) 可在不稀釋的情況下直接分析總溶解態固體含量高達 25% 的樣品，從而減少樣品前處理時間。
氦氣碰撞池和半質量校正可消除棘手的多原子和雙電荷離子干擾，避免降低數據質量，同時可減少高成本的樣品重新測量需求。
可靠的硬件使您無需基質匹配的校準標樣即可測定高基質樣品。
IntelliQuant 可提供每個樣品的完整元素譜，幫助您輕松識別異常樣品基質。
異常值條件格式 (OCF) 可突出顯示超出范圍或不滿足測試要求的結果，從而減少工作繁忙或經驗不足的 ICP-MS 操作人員審查數據的時間。
早期維護反饋 (EMF) 功能采用傳感器和計數器確定系統何時需要維護。交通信號燈式顏色預警確保您不會錯過任何維護任務，但也不會過于頻繁地進行維護。
ICP Go 是一款用于移動設備的基于瀏覽器的可選用戶界面，能夠簡化常規樣品批次的設置和控制，非常適合來回奔走的 ICP-MS 操作人員。
針對特定方法的分析儀套裝包含 ICP-MS 硬件、軟件、消耗品、專業服務和文檔，確保您能在數周內開始運行樣品，無需耗費數月時間進行法規方法開發、優化、驗證和文檔編制。
技術參數
Agilent ICP-MS 7850技術參數：
整機氣路控制;雙通道石英霧室，霧室外配置全包裹式半導體制冷裝置，提升去溶效果;高鹽進樣系統
二次放電消除技術:具備屏蔽矩物理接地技術
離子透鏡:由離子提取和離子偏轉雙系統組成，離子透鏡放置于碰撞反應池之前，以保證中性離子不會進入到碰撞反應池
在水質樣品多元素分析中，一次分析不少于26種元素，獲得9Be與11B的DL≤6.0ppt，56Fe與78Se的DL≤20ppt，202Hg的DL≤2.0pp
氧化物產率(CeO+/Ce+):≤1.6%
雙電荷產率(Ce2+/Ce+):≤3.0%
