MicroTEQ-S1顯微光譜測量系統，集成熒光、拉曼和反射光譜測量功能。通過把光譜模塊集成到顯微鏡上，實現顯微熒光、拉曼和其他光譜信息的測量。系統由光譜儀、激光器、光源、顯微鏡等部分構成，自由靈活，幫助用戶快速對樣品微觀結構，微觀光譜信息的測試和分析；此外系統可以加裝二維電控掃描臺，通過軟件控制，實現光譜二維掃面測量功能。

應用范圍

• 微流控；
• 植物葉片研究；
• 激光材料評價；
• 生物和細胞測試；
• 光子晶體測試；
• 珠寶、古籍檢測;

• 納米材料分析；

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拉曼模式

拉曼探頭可直接插入顯微光譜測試模塊中，從而快速實現拉曼光譜測量。支持光譜范圍覆蓋400-1100nm，僅需通過更換探頭和激光器，便可實現488nm、532nm、633nm、785nm激發波長的拉曼光譜測量。

搭配便攜式拉曼光譜儀

顯微光譜測試模塊也能夠適配ACCUMAN SR 系列科研級便攜拉曼，即插即用的工作模式讓您不僅可以實現便攜的拉曼光譜測量，還可以更方便地在實驗室內實現顯微拉曼光譜分析。

其他模式

• 熒光測量：顯微光譜測量模塊內部集成了熒光測試光路，通過SMA905光纖接口與熒光激光器和熒光光譜儀連接。其中連接激光器的SMA905接頭，可以改裝成為自由空間光作為輸入光源，從而得到更強的激發功率或更好的光斑質量。模塊中帶濾光片插槽，可以放置適配不同激發波長的激發濾光片和發射濾光片，實現不同激發波長的顯微熒光測量。

• 顏色和反射測量：使用光纖把鎢燈光源和顯微光譜測量模塊連接起來，共用熒光光路，即可實現顯微反射光譜測量和顯微顏色測量功能。

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• 二維Mapping：選配二維電動平臺，使用操作軟件設置面掃描采樣， 獲取一定范圍內的逐點掃描光譜數據，可用于表征材料表面微觀結構和光譜成像。同時測試結果還可以通過圖像繪制的方式呈現出來。

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• 光譜儀配置	拉曼	拉曼	熒光
  光譜儀	QEPRO@532nm	QEPRO@785nm	QEPRO-FL
  光譜范圍	150-4200cm-1@532nm	150-2000cm-1@785nm	300-1050nm
  分辨率	~10cm-1@5um狹縫	~6cm-1@5um狹縫	1.5nm@5um狹縫
  信噪比	1000:1
  A/D	18位
  探測器	背照減薄型面陣CCD
  雜散光	0.08%@600nm
  線性度	>99%
  動態范圍	85000:1
  暗噪聲	6RMS@18位
  積分時間	8ms-60mins
  激光器	LASER-532	LASER-785	LASER-405	LASER-450
  激光波長	532nm	785nm	405+/-2nm	450+/-2nm
  激光功率	0-300mW可調	0-500mW可調	0-200mW可調	0-200mW可調
  線寬	<>	<>	2nm	2nm
  壽命	10000h	10000h	10000h	10000h
  拉曼探頭	RPB-532	RPB-785
  OD值	OD>6	OD>6
  焦距	7.5mm	7.5mm
  激光輸入端光纖	100um
  光譜收集端光纖	200um
  顯微光譜測量模塊	Micro-S1
  	光譜范圍：400-1100nm
  顯微鏡	4組平場消色差物鏡：5X,10X,20X,50X
  	5X，數值孔徑：0.15，工作距離：10.8mm
  	10X，數值孔徑：0.3，工作距離：10mm
  	20X，數值孔徑：0.45，工作距離：4mm
  	50X，數值孔徑：0.55，工作距離：7.9mm
  	100X，數值孔徑：0.8，工作距離：4mm（非標配，可選）
  	1/2”CMOS彩色CCD，2048*1536（300萬像素）
  	載物臺面積175mm×145mm，移動范圍：76mm×42mm
  二維電控平移臺（可選配）	一體式二維電控平移臺，含控制器；
  	行程：50mmx50mm；
  	重復定位精度：2um；
  	移動分辨率：1um；

• * 產品圖片僅供參考，具體以實際配置為準