產品簡介：

VersaScan微區掃描電化學工作站是一個建立在電化學掃描探針的設計基礎上的，進行超高測量分辨率及空間分辨率的非接觸式微區形貌及電化學微區測試系統。

產品特點：

? (SECM) 掃描電化學顯微鏡

? (SVET) 掃描振動電極測試

? (SKP) 掃描開爾文探針測試

? (LEIS) 微區電化學阻抗測試

? (SDC) 掃描電解液微滴測試

? (OSP) 非觸式光學微區形貌測試

? 兼容恒電位儀:  VersaSTAT 3F 和VersaSTAT 3/3F/4。

? 可進行逼近曲線實驗包含“反饋”模式和“發生-采集”模式兩種成像模式。

? 結合了表面形貌測量技術，如典型的如非接觸式微區形貌掃描系統OSP，可進行樣品表面定距離掃描，

? VersaSTATs 配置不同功能的操作軟件，能夠提供強大的成套的非掃描電化學測試，取決于其的軟件模式。

產品簡介：

VersaScan微區掃描電化學工作站是一個建立在電化學掃描探針的設計基礎上的，進行超高測量分辨率及空間分辨率的非接觸式微區形貌及電化學微區測試系統。

產品特點：

? (SECM) 掃描電化學顯微鏡

? (SVET) 掃描振動電極測試

? (SKP) 掃描開爾文探針測試

? (LEIS) 微區電化學阻抗測試

? (SDC) 掃描電解液微滴測試

? (OSP) 非觸式光學微區形貌測試

? 兼容恒電位儀:  VersaSTAT 3F 和VersaSTAT 3/3F/4。

? 可進行逼近曲線實驗包含“反饋”模式和“發生-采集”模式兩種成像模式。

? 結合了表面形貌測量技術，如典型的如非接觸式微區形貌掃描系統OSP，可進行樣品表面定距離掃描，

? VersaSTATs 配置不同功能的操作軟件，能夠提供強大的成套的非掃描電化學測試，取決于其的軟件模式。

產品簡介：

VersaScan微區掃描電化學工作站是一個建立在電化學掃描探針的設計基礎上的，進行超高測量分辨率及空間分辨率的非接觸式微區形貌及電化學微區測試系統。

產品特點：

? (SECM) 掃描電化學顯微鏡

? (SVET) 掃描振動電極測試

? (SKP) 掃描開爾文探針測試

? (LEIS) 微區電化學阻抗測試

? (SDC) 掃描電解液微滴測試

? (OSP) 非觸式光學微區形貌測試

? 兼容恒電位儀:  VersaSTAT 3F 和VersaSTAT 3/3F/4。

? 可進行逼近曲線實驗包含“反饋”模式和“發生-采集”模式兩種成像模式。

? 結合了表面形貌測量技術，如典型的如非接觸式微區形貌掃描系統OSP，可進行樣品表面定距離掃描，

? VersaSTATs 配置不同功能的操作軟件，能夠提供強大的成套的非掃描電化學測試，取決于其的軟件模式。