產品應用
• 批量生產環節中LD TO器件進行老化篩選
• 長時間可靠性失效測試分析
產品特點
• 提供每路獨立的驅動電流
• 軟件切換支持各種類型封裝LD器件的老化
• 兩個獨立老化箱體,可以獨立控制,升溫速度效率高,無過沖
• 支持多種算法計算Ith
• 支持熱插拔,可靠的ESD/EOS防護,保證器件老化期間的安全
• 支持老化板監控插拔次數在線記錄功能
• 64路老化板作為通用載體,可以實現盤測、老化、分揀不同工位直接的轉料,提高生產效率
參 數 | 指 標 |
測試路數 | 單板64路,左右2個倉,每層24個,共3072路 |
獨立溫區數 | 2個 |
LD驅動電流 | 0~250mA |
LD正向電壓 | 0~3V |
LD監控電流 | 0~250mA |
PD監控電流 | 0~2000uA |
管腳定義 | 軟件切換支持各種封裝類型的器件 |
Ith 掃描 | 支持Im掃描計算Ith |
溫度范圍 | RT+20℃~150℃ |
溫度精度 | ±2℃ |
溫度均勻性 | 滿載時≤3℃,空載時≤2℃ |
升溫過沖 | ≤3℃ |
長期溫度穩定性 | 0.5℃ |
升溫速度 | 100℃/半小時 |
設備尺寸(寬x高x深) | 1400 x 1800 x 1200(mm) |
電源規格 | 三相五線AC 380V/50HZ |