YJ-1902FS反射比測量儀是一款功能全面、性能**的測量儀器，適用于多個領域的反射率測量需求。其**的技術指標和廣泛的應用領域使其成為科研、生產和質量控制的重要工具。無論是材料研發、產品檢測還是實驗分析，YJ-1902FS都能為用戶提供準確、可靠的數據支持，助力行業的創新與發展。
應用領域：
涂料、顏料、油墨、塑料：該儀器可以準確測量這些材料的反射率譜圖，幫助用戶進行顏色分選和質量控制。
固體與粉末反射率：無論是固體還是粉末狀物質，YJ-1902FS都能提供**的反射率光譜測量數據。
薄膜與光學元件：對于不透明薄膜和光學元件，該儀器能進行反射率檢測，滿足科研和生產的需要。
熒光粉與太陽能硅片：該儀器還適用于熒光粉的檢測和太陽能硅片的反射率測量，為新能源行業提供技術支持。
織物與生化過程：在紡織行業和生化過程中，YJ-1902FS也能發揮重要作用，進行織物測量和生化過程監控。
生物測量與化學分析：該儀器還適用于生物測量和化學分析和識別，為科研和實驗提供數據支持。
技術指標：
YJ-1902FS反射比測量儀在技術上表現出色，其單色器系統采用雙光束1200L/mm設計，保證了測試的**性。雜散光、波長范圍、穩定性、光譜帶寬、基線平基度、波長準確度、波長重復性等多項指標均達到或超過行業標準，確保測試結果的準確性和可靠性。
標準配置：
購買YJ-1902FS反射比測量儀時，用戶將獲得一套完整的標準配置，包括主機、玻璃比色皿、保修卡、電源線、說明書、石英比色皿、USB連接線以及U盤等，為用戶提供了一站式的解決方案。
技術指標：
單色器系統 | 雙光束1200L/mm | 雜散光 | ≤0.03%t（220nm Nal、360nm NaNO2） |
波長范圍 | 190-1100nm | 穩定性 | ≤±0.004A/h（500nm、開機預熱30min） |
光譜帶寬 | 1nm | 基線平基度 | ≤±0.0008A |
波長準確度 | ≤±0.3nm | 掃描速度 | 快 中 慢 |
波長重復性 | ≤0.1nm | 光 源 燈 | 氘燈（進口） 鎢燈（進口） |
光度范圍 | -4A～4A | 電源電壓 | 100V～240V 50/60±1Hz |
光度準確度 | ≤±0.3%t ≤±0.002A ≤±0.004A | 外形尺寸 | 650×450×220（mm） |
光度重復性 | ≤0.15%t ≤0.001A ≤0.002A | 重 量 | 25kg |
