
在太赫茲時域光譜系統(THz-TDS)中,電光采樣和光電導天線是常見的兩種寬帶太赫茲波探測技術。其中,電光采樣技術基于電光晶體的Pockels效應來檢測THz信號的幅度。當探測光脈沖(<100 fs)和THz光束共線、同時入射電光晶體時,在THz電場的線性調制作用下,電光晶體產生雙折射現象(Pockels效應)。當探測光脈沖隨THz波在GaAs晶體中傳播,并透過1/4波片(QWP)后,其偏振態橢圓率正比于THz電場強度。當沒有THz電場存在時,線偏振探測光經過QWP后轉化為圓偏振光。經過渥拉斯頓棱鏡(WP)后,S偏振和P偏振光被分離,兩個平衡探測器(PD)將兩者光強相減,其輸出電流差值(IBD)為零;當THz存在時,IBD隨THz電場強度而比例增大。通過探測IBD即可間接的測量THz波的電場幅度。