手持式光譜儀設備維護與保養:
1.手持式光譜儀使用過程中應輕拿輕放,防止內部零件受損。
2.保持檢測口薄膜的清潔,檢測口薄膜被污染可能引起檢測誤差。檢測口薄膜破損繼續使用可能會造成手持式光譜儀的損壞。應及時清潔或更換。
3.被檢測物表面的氧化層和污染物等要用砂輪機或金剛砂去除,以免造成測量結果不準確,被檢測物表面凹凸不平、有毛刺時應在檢測時注意,防止手持式光譜儀檢測口薄膜損壞。檢測鍍件時,要將電鍍層去除。
4.手持式光譜儀電池使用至10%時,應更換電池,充電。

手持式光譜儀是一種基于XRF光譜分析技術的光譜分析儀器,當能量高于原子內層電子結合能的高能X射線與原子發生碰撞時,驅逐一個內層電子從而出現一個空穴,使整個原子體系處于不穩定的狀態,當較外層的電子躍遷到空穴時,產生一次光電子,擊出的光子可能再次被吸收而逐出較外層的另一個次級光電子,發生俄歇效應,亦稱次級光電效應或無效應。所逐出的次級光電子稱為俄歇電子。當較外層的電子躍入內層空穴所釋放的能量不被原子內吸收,而是以光子形式放出,便產生X 射線熒光,其能量等于兩能級之間的能量差。因此,射線熒光的能量或波長是特征性的,與元素有一一對應的關系。由Moseley定律可知,只要測出熒光X射線的波長,可以知道元素的種類,這是熒光X射線定性分析的基礎。此外,熒光X射線的強度與相應元素的含量有一定的關系,據此,可以進行元素定量分析。X射線探測器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號轉換成易于測量的電信號來得到待測元素的特息。

技術參數: 重量: 1.6kg 尺寸: 30cm(L) x 10cm(W) x 28cm(H) 激發源: X射線管,Ag靶,40kV 檢測器: SI-PIN檢測器 操作系統:HP掌上電腦:Windows 5.0 Bruker 軟件 冷卻系統:Peltier 半導體冷卻系統 電源: 交、直流供電;充電鋰電池 工作條件:溫度:-20 ℃ ~ 55 ℃ 濕度:0~95%

手持式光譜儀器具有小巧便攜、操作快捷,體積很小,便攜、方便野外工作,隨時隨地,隨心所欲的現場分析和原位分析,設備無需預熱,可直接測試。 手持式xrf熒光光譜儀的特點是無損、檢測.手持合金測試儀既可手持1-2秒對樣品進行測試,也能使用座式對樣品進行較長時間的精細測試,10秒即可進行接近實驗室精度的測量,整個檢測過程被測樣品無任何損壞。高清攝像頭檢測更加 內置500萬高清晰攝像頭,可以隨時觀察被測樣品的測試位置。
手持式光譜儀系統誤差的來源有: (1)標樣和試樣中的含量和化學組成不相同時,可能引起基體線和分析線的強度改變,從而引入誤差。 (2)標樣和試樣的物理性能不相同時,激發的特征譜線會有差別從而產生系統誤差。 (3)澆注狀態的鋼樣與經過退火、淬火、回火、熱軋、鍛壓狀態的鋼樣金屬組織結構不相同時,測出的數據會有所差別。 (4)未知元素譜線的重疊干擾。如熔煉過程中加入脫氧劑、除硫磷劑時,混入未知合金元素而引入系統誤差。 (5)要系統誤差,必須嚴格按照標準樣品制備規定要求。為了檢查系統誤差,需要采用化學分析方法分析多次校對結果。