產品介紹
一體化 采用人工智能算法驅動,業界集成IV測試、CV測試、低頻噪聲(1/f noise)于單臺儀器中,無需換線和重新探針即可完成全部低頻參數化表征。 | 超快速 FS-Pro系列較傳統半導體參數測試系統,其測試速度高達10倍,業界AI測試加速卡,體驗強大速度提升,同時保持測試精度。 | 模塊化架構 PXI模塊化架構,可輕松擴展支持生產測試(如 WAT)。 |
操作便捷 內置測量控制軟件LabExpress-Adv™,擁有直觀的用戶圖形界面,僅需點擊幾下鼠標就可以完成強大的器件特性分析功能。 | 寬量程 高達200V,3A(脈沖,標準1A),0.1fA的靈敏度。 | 建模仿真 業界提供可選內置器件建模與仿真軟件。 |