P系列 BA-100 X射線熒光鍍層測厚儀
產品參數：
項目 | 技術參數 |
X射線管 | 50W(50kV和1mA)微聚焦鎢靶射線管 |
探測器 | 190eV及以上分辨率的Si-PIN固態探測器 |
濾波器 | 4位置一次濾波器/4種規格準直器 |
處理器 | 英特爾，酷睿i5 3470處理器(3.2GHz)8GB DDR3內存Windows 10，64位 |
分析能力 | 5層(4層+基材)每層分析10種元素， 成分分析最多可同時分析25種元素 |
焦距 | 激光多焦距 |
視頻放大倍率 | 30x:標準 45x:可選 |
工作環境 | 溫度在10℃~40℃之間，相對濕度小于98%，無冷凝 |
數字脈沖處理 | 4096多通道數字處理器 自動死時間 逃逸峰校正 |
重量 | 52-70kg |
元素測量范圍 | 13號鋁元素至92號鉑元素 |
相機 | 1/4CMOS-1280x720VGA分辨率 |
電源 | 150W，100~240V 頻率范圍為47Hz~63Hz |
尺寸(高x寬x深) Size ( high x wide x deep ) | 樣品倉:140mm(5.5”)x305mm(12”)x330mm(13”) 外形:450mm(18“) x450mm(18“)x600mm(24”) |
標準可編輯XY平臺 | 尺寸:380mm(15”)x 330mm(13”) 行程:125mm(5”)x150mm(6”) |
可選可編輯XY平臺
| 尺寸:625mm(25”)x 625mm(25”) 行程:250mm(10”)x250mm(10”) |
領域：
P系列可滿足以下類型用戶的需求：
◆小型鍍件領域，如緊固件，連接器或PCB
◆需要測試多個樣品的多個位置
◆期望在多個樣品上實現自動化測量
◆樣品尺寸和應用經常變化
◆保證符合IPC-4552A
特點：
◆P系列提供了測量各種樣品尺寸，形狀和數量的靈活性。配備一個高精度可編程XY平臺，相對固定平臺，提供了多種便利因素。操作員可以使用鼠標和軟件界面輕松移動到所需的測量位置。可以創建多點程序，通過單擊按鈕自動測量多個樣品位置。精確控制可用于測試關鍵區域。通過多點編程可以獲得更大的采樣量。
配置：
◆標準配置包括一個4位置多準直器組件和一個用于測量凹陷區域的變焦相機。可以為應用定制準直器和焦距。固態PIN探測器隨附我們的長壽命微焦點X射線管，SDD探測器可選。
