非接觸式膜厚測(cè)量?jī)x E-80
產(chǎn)品描述:
◆非接觸光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)
◆應(yīng)對(duì)各種高反光、高透光材質(zhì)
◆高速采樣,周期20µs
◆強(qiáng)大的CPK統(tǒng)計(jì)功能
◆測(cè)量輪廓、斷差、槽深、膜厚等
技術(shù):
◆采用白光共焦技術(shù),分辨率達(dá)到納米級(jí),同時(shí)采用了光纖傳感器,具有抗干擾、損耗低、安全隔離、可靠性高等優(yōu)點(diǎn)
◆機(jī)械精度達(dá)到微米級(jí),運(yùn)行平穩(wěn),跳動(dòng)小,磨損低
◆Y向自動(dòng)測(cè)量,重復(fù)精度1μm
應(yīng)用:
◆環(huán)氧樹脂測(cè)量
◆印刷圖形測(cè)量
◆激光打標(biāo)測(cè)量
◆焊膏厚度測(cè)量
◆表面膜厚測(cè)量
設(shè)備技術(shù)參數(shù):
項(xiàng) 目 | 技術(shù)參數(shù) |
外觀尺寸 | 650mm*500mm*600mm |
測(cè)量掃描行程 | 80mm |
Z軸可調(diào)行程 | 50mm |
有效測(cè)量范圍 | 60mm |
掃描最小步距 | 2um |
掃描速度 | 30mm/s |
測(cè)試重復(fù)精度 | 20nm(標(biāo)樣) |
電 源 | AC220V±10%,50-60 Hz |