簡介
XTU-50B是一款、設計緊湊并被廣泛應用的X熒光涂鍍層測厚及材料成分分析儀。常用于無損測量各類小工件上的鍍層厚度和材料成分的分析。廣泛用于各類鍍層產品的質量管控、來料檢驗和對生產工藝控制的測量使用。
設計理念
1.下照式
為了樣品定位簡單快捷，儀器采用了下照式設計，即X射線發生器和比例接收器都集成在了儀器下部的艙室中。
2.C型開槽設計
儀器采用了C型開口設計，使得在測量大型工件品時同樣方便快捷。
3.封閉式軟件
儀器采用了人性化封閉式軟件，自動提示校正和步驟，避免操作錯誤。
4.報表清晰呈現
儀器操作及測量結果的數據顯示， 都通過強大的EFP-T算法軟件在電腦上， 以報表的形式呈現。
產品優勢
1.下照式設計：可以快速方便地定位對焦樣品。
2.變焦裝置算法：可對各種異形凹槽進行檢測，凹槽深度可達0-30mm，特殊要求可達90mm。
3.微焦X射線裝置：檢測面積可小于0.002mm2的樣品，可測試各微小的部件。
4.高效率正比接收器：即使測試0.01mm2以下的樣品，幾秒鐘也能達到穩定性。
5.EFP算法軟件：多層多元素， 包括有同種元素在不同涂鍍層的檢測， 都可快， 準， 穩。
應用領域
1.線路板、引線框架以及電子元器件接插件檢測
2.鍍純金、K金、鉑、銀等各種飾品的膜層成分和厚度分析
3.手表、精密儀表制造行業
4.釹鐵硼磁鐵上的Ni/Cu/Ni/FeNd B
5.汽車、五金、電子產品等其他緊固件的表面處理檢測
6.衛浴產品裝飾把手上Cr/Ni/Cu/CuZn(ABS)
7.電鍍液的金屬陽離子檢測
儀器配置
1.微焦X射線發生器
2.光路轉換聚焦系統
3.高敏變焦測距裝置
4.高效率正比接收器
5.的信號放大器
6.標準片Ni/Fe5um
7.標準片Au/Ni/Cu0.1um/2um
技術參數
1.元素分析范圍：氯(Cl)~鈾(U)
2.涂鍍層分析范圍：各種元素及有機物
3.一次性同時分析：23層鍍層，24種元素
4.厚度檢出限：0.005um
5.最小測量面積：0.002mm2(多種準直器可選)
6.測量距離：0-30mm，特殊要求可到90mm(測試凹槽，可變焦)
7.樣品腔尺寸：500mm×360mm×215mm
8.C型設計，允許測試超出樣品腔板裝物體
9.儀器尺寸：550mm×480mm×470mm
10.儀器重量：45kg
11.XY軸工作臺移動范圍：50mm×50mm
12.XY軸工作臺承重：5KG
選配附件
1.配件箱：其中包括儀器相關配線，密碼狗，十二元素片，Ni/Fe5um，Au/Ni/Cu0.1um/2um，網圈等。
2.電鍍液測試附件整套：含兩個測量杯一卷測試膜， 可用于多品牌X-RAY測厚儀上使用， 電鍍液測試樣品杯采用高純元素本底，提高測量精度和檢出限，嚴格控制了容量和溢出物的處理，用來測藥水溶液中金屬離子的濃度，使用方便簡捷，無污染。
3.測厚儀標準片：校正片， 又稱標準箔， 膜厚片， 通用于所有X射線鍍層測厚儀(Elite、Fischer、Oxford(CMI) Thermo、Veeco、華唯計量等) ， 本公司標準片規格齊全， 可送檢第三方出具CNAS證書， 為儀器精準測試保駕護航，歡迎。
