四探針直流低電阻測試儀 (產品型號:KV-FPB-SP02)
Four-Point Probe Resistance Tester (DC)
本測試儀由珠海凱為配套設計,使用大探針頭,增加探針和樣品之間的接觸面,適合實驗室用于導電高分子膜層、表面粗糙的硅片的測試,需要用來測試硅片、納米銀膜、石墨烯膜、碳漿膜等材料的阻值的,訂購前可咨詢我們。
四探針頭類型:直線四探針
四探針頭探針材質:磷銅
四探針頭探針間距:2mm
四探針直流低電阻測試儀 (產品型號:KV-FPB-SP02)
Four-Point Probe Resistance Tester (DC)
本測試儀由珠海凱為配套設計,使用大探針頭,增加探針和樣品之間的接觸面,適合實驗室用于導電高分子膜層、表面粗糙的硅片的測試,需要用來測試硅片、納米銀膜、石墨烯膜、碳漿膜等材料的阻值的,訂購前可咨詢我們。
四探針頭類型:直線四探針
四探針頭探針材質:磷銅
四探針頭探針間距:2mm