雙耀科技SY-TS120是一臺專門用于手機蓋板IR孔檢測的高性能透過率檢測儀，適用于微小區域平面濾光片的顯微透過率測量，如手機面板上IR小孔的透過率檢測，遙控器透過率檢測，使用特殊光路設計，大大增強光路耦合效率，使得能量比普通顯微光路增強10倍，此優異的性能滿足積分球檢測的條件，故儀器采用積分球檢測，不存在普通鏡頭采集所產生的離焦色差問題，檢測信號更加準確。
2 核心技術：
? 寬波段消色差技術：經過特殊光學設計在400nm-1000nm波段內色差控制非常好；
? 顯微共聚焦技術：采集光學系統僅接受透過樣品的光波，提高檢測結果準確性;
? 大數值孔徑技術：才用0.22光纖接入和采集;
? 積分球采集技術：解決離焦色差問題，總檢測時間約100ms-200ms；
? 底部反向照明技術：底部采用照明/采樣系統切換結構。
2 軟件特點：
? 產品規格可錄入數據庫，測試可直接調取進行快速檢測；
? 自定義代測產品檢測波長，自定測試上下限；
? 自動保存數據于本地磁盤數據庫，不清空以往測試記錄;
? 具有自動產能分析報表功能;
? 配套232、IO串口輸出信號，可以高度配合自動化設備;
? 可開放對接接口進行二次開發，信號協議更變等。
2 規格參數：
雙耀科技SY-TS120是一臺專門用于手機蓋板IR孔檢測的高性能透過率檢測儀，適用于微小區域平面濾光片的顯微透過率測量，如手機面板上IR小孔的透過率檢測，遙控器透過率檢測，使用特殊光路設計，大大增強光路耦合效率，使得能量比普通顯微光路增強10倍，此優異的性能滿足積分球檢測的條件，故儀器采用積分球檢測，不存在普通鏡頭采集所產生的離焦色差問題，檢測信號更加準確。
2 核心技術：
? 寬波段消色差技術：經過特殊光學設計在400nm-1000nm波段內色差控制非常好；
? 顯微共聚焦技術：采集光學系統僅接受透過樣品的光波，提高檢測結果準確性;
? 大數值孔徑技術：才用0.22光纖接入和采集;
? 積分球采集技術：解決離焦色差問題，總檢測時間約100ms-200ms；
? 底部反向照明技術：底部采用照明/采樣系統切換結構。
2 軟件特點：
? 產品規格可錄入數據庫，測試可直接調取進行快速檢測；
? 自定義代測產品檢測波長，自定測試上下限；
? 自動保存數據于本地磁盤數據庫，不清空以往測試記錄;
? 具有自動產能分析報表功能;
? 配套232、IO串口輸出信號，可以高度配合自動化設備;
? 可開放對接接口進行二次開發，信號協議更變等。
2 規格參數：
