蔡司 METROTOM斷層掃描測量機——測量技術的新革命

蔡司 Metrotomo融合了計量學和斷層X射線攝影法,開創了不可預期的可能性。在此之前只能檢測或根本不能進行質量保證的場合,現在可以進行高精度和無損測量。

斷層掃描分析如同在工件內部測量:所有采集的數據可用于質量保證的范圍和進行評估。無損檢測技術,例如：裝配檢查、損傷和氣孔分析、材料檢驗或損壞檢查,如同測量評估、逆向工程應用或幾何比較一樣。

在此之前或許不能檢測，或只能通過耗費時間和成本的接口進行檢測的場合，現在斷層掃描分析可以快速明確地檢測誤差。 

重要特征

深思熟慮的設計

● 三維計算機斷層掃描分析帶有微聚焦X射線管和探測器

● 用于裝夾工件的轉臺和蔡司的運動單元

安全技術

● 全防護測量間

● 滿足了根據DN54113標準的用于結構類型許可全封閉儀器的防護射線條例

● 根據人機工程學優化的設計(專用上料位置)

機器技術

來自卡爾蔡司的精密運動系統；

● 自加工的精密機械組件             ● 導軌誤差補償(CAA計算機輔助誤差修正技術)

氣浮軸承轉臺：

● 蔡司原裝轉臺,配有直接驅動      ● 自產氣浮軸承

● 載荷(中心):500N                ● 軸向誤差fa=0.1μm,徑向誤差fa=0.2μm

使用斷層成像技術優化產品內部工藝

● 裝配檢查                         ● 模具修復——幾何量對比              ● 材料分析                               

● 幾何量測量                     ● 無損瑕疵檢測                                ● 逆向工程

● 孔隙率分析                     ● 損害分析

針對設備的驗收測試階段,卡爾蔡司使用基于VDI/VDE 2630開發的標準器具,同時可提供測量不確定性的相應對比測試及測量機的測量系統分析。