邱經(jīng)理 176 2134 1145
ALCT-200分體式涂層測厚儀
產(chǎn)品特點(diǎn)
1、采用了磁性和渦流兩種測厚方法,即可測量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度又可測量非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度。
2、具有三種測量模式:高精度測量模式可對多次測量取平均,并對可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行自動過濾,可確保測量值更加準(zhǔn)確、穩(wěn)定;快速測量模式可實(shí)現(xiàn)實(shí)時掃描功能。
3、具有溫度補(bǔ)償功能實(shí)時溫度補(bǔ)償技術(shù)可自動對環(huán)境溫度、及測頭溫度改變引起的測量誤差進(jìn)行補(bǔ)償,使測量更準(zhǔn)確。
4、設(shè)有五個統(tǒng)計(jì)量:平均值(MEAN)、測試次數(shù)(NO.)、標(biāo)準(zhǔn)偏差(S.DEV)。
5、分體(傳感器與儀器之間通過引線連接)、無需更換探頭實(shí)現(xiàn)鐵鋁自動轉(zhuǎn)換。
6、支持通過藍(lán)牙實(shí)時上傳涂層厚度。
技術(shù)參數(shù)
工作原理 | 磁感應(yīng) | 渦流 | |
測頭類型 | F | N | |
測量范圍(μm) | 0 ~ 1 500 | 0 ~ 1 500 銅上鍍鉻 0 -40 | |
低限分辨力(μm) | 0.1 | 0.1 | |
示 值 | 零點(diǎn)校準(zhǔn)(μm)(H指被測物體的實(shí)際厚度) | ±(3% H + 1) | ±(3% H + 1 . 5) |
兩點(diǎn)校準(zhǔn)(μm)(H指被測物體的實(shí)際厚度) | ±[(1 ~ 3)%H + 1] | ±[(1 ~ 3)%H + 1 . 5] | |
測 試 條 件 | 最小曲率半徑(mm) | 凸3 | 凸3 |
最小面積的直徑(mm) | |||
基體臨界厚度(mm) | 0.5 | 0.3 |