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# 晶振阻抗測試儀 GDS-80:精準(zhǔn)檢測,高效穩(wěn)定
## 一、產(chǎn)品概述
晶振阻抗測試儀 GDS-80 是一款高精度、多功能的晶振檢測設(shè)備,它采用 π 型網(wǎng)絡(luò)零相位法,實(shí)現(xiàn)對晶振的高精度測量。其測試頻率范圍為 20kHz 至 100MHz,能夠?qū)д竦亩喾N關(guān)鍵參數(shù)進(jìn)行全面、準(zhǔn)確的測試,包括串聯(lián)諧振頻率、負(fù)載諧振頻率、等效電阻、負(fù)載電阻、負(fù)載電容、動態(tài)電容、動態(tài)電感、品質(zhì)因數(shù)和頻率牽引力等。GDS-80 廣泛應(yīng)用于電子制造、研發(fā)支持、品質(zhì)管控和教育培訓(xùn)等領(lǐng)域,為晶振的高精度檢測提供了可靠的解決方案。
## 二、核心優(yōu)勢
### (一)高精度測量
GDS-80 采用高穩(wěn)定度石英晶體振蕩器作為時(shí)間基準(zhǔn),結(jié)合 FPGA 技術(shù)和單片機(jī)整合控制,實(shí)現(xiàn)高精度的時(shí)間間隔測量,測量誤差小,確保檢定結(jié)果的準(zhǔn)確性。其測量精度可達(dá) ±0.01ppm,頻率范圍為 20kHz 至 100MHz,能夠滿足不同類型的晶振測試需求。
### (二)多參數(shù)同步測量
能夠同步測量諧振頻率(串聯(lián)諧振頻率 Fs、負(fù)載諧振頻率 Fl)、阻抗特性(等效電阻 R1、負(fù)載電阻 RL、負(fù)載電容 CL)、動態(tài)性能(動態(tài)電容 C1、動態(tài)電感 L1、品質(zhì)因數(shù) Q 值、頻率牽引力 TS)等九大參數(shù)。為用戶提供準(zhǔn)確的晶振性能評估,幫助判斷晶振的質(zhì)量和性能。
### (三)智能抗干擾設(shè)計(jì)
采用多級數(shù)字濾波技術(shù),復(fù)雜工況下測試穩(wěn)定性提升 80%;全金屬屏蔽機(jī)身,通過 EMC Class B 認(rèn)證,無懼電磁干擾。確保在各種環(huán)境下都能穩(wěn)定工作,提供可靠的測量結(jié)果。
### (四)便捷操作與高效檢測
配備大屏幕液晶顯示和觸摸屏操作界面,界面友好,操作簡便。用戶只需連接設(shè)備、選擇測試模式,儀器即可自動完成測試過程,大大提高了工作效率。此外,0.5 秒 / 次的瞬時(shí)測量速度,8 通道并行檢測,產(chǎn)能提升顯著。
### (五)全場景適配
寬溫工作范圍(-30℃~70℃),滿足工業(yè)車間及實(shí)驗(yàn)室環(huán)境。可選配自動探針臺,無縫對接 SMD 晶振產(chǎn)線檢測,適應(yīng)不同場景下的檢測需求。
## 三、技術(shù)參數(shù)
| 項(xiàng)目 | 規(guī)格 |
| ---------------- | ----------------------------- |
| 測試頻率范圍 | 20kHz 至 100MHz |
| 負(fù)載電容 | 4-20pF |
| 負(fù)載諧振電阻 | 1Ω-300Ω,1K-300K |
| PPM 范圍測量 | ±300ppm,測量精度:<0.5ppm |
| 時(shí)基頻率 | 16.384M |
| 晶振穩(wěn)定性 | 2×10??/日 |
| 體積 | 80×235×305(mm) |
| 重量 | 約 6kg |
## 四、使用說明
### (一)開機(jī)準(zhǔn)備
將晶振測試儀 GDS-80 連接電源,開機(jī)后等待設(shè)備自檢完成,確保設(shè)備處于正常工作狀態(tài)。
### (二)連接晶振
根據(jù)被測晶振的類型和測試需求,將晶振正確連接到儀器的測試端口。儀器可適配不同封裝的晶振,包括 SMD 封裝(如 3225/5032 等)、插件晶振(如 HC-49/U/S)等。
### (三)參數(shù)設(shè)置
在儀器的操作界面上,根據(jù)具體的測試要求設(shè)置相應(yīng)的參數(shù),如測試頻率、負(fù)載電容等。儀器具備智能分析系統(tǒng),可自動識別并適應(yīng)不同的測量需求。
### (四)開始測量
確認(rèn)各項(xiàng)設(shè)置無誤后,點(diǎn)擊 “開始測量” 按鈕,儀器將自動進(jìn)行測量,并在屏幕上顯示測量結(jié)果。測量過程中,儀器會實(shí)時(shí)采集數(shù)據(jù),并進(jìn)行分析處理。
### (五)數(shù)據(jù)讀取與保存
測量完成后,用戶可以在儀器的屏幕上查看測量結(jié)果,包括串聯(lián)諧振頻率、負(fù)載諧振頻率、等效電阻、負(fù)載電阻、負(fù)載電容、動態(tài)電容、動態(tài)電感、品質(zhì)因數(shù)、頻率牽引力等參數(shù)。通過 USB 或 RS-232 接口,可將測量數(shù)據(jù)上傳至電腦進(jìn)行數(shù)據(jù)管理和分析。
## 五、應(yīng)用場景
GDS-80 廣泛應(yīng)用于電子制造、研發(fā)支持、品質(zhì)管控和教育培訓(xùn)等領(lǐng)域。無論是電子元器件生產(chǎn)廠家、計(jì)量機(jī)構(gòu)還是科研機(jī)構(gòu),都能從這款設(shè)備中受益,提升產(chǎn)品質(zhì)量和工作效率。
## 六、采購信息
- **價(jià)格**:晶振測試儀 GDS-80 的參考價(jià)為 22800 元 / 臺,具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)。
- **訂貨量**:≥1 臺,可根據(jù)實(shí)際需求進(jìn)行采購。
- **供貨期**:一般為 7-15 個(gè)工作日,具體以供應(yīng)商確認(rèn)為準(zhǔn)。
智慧源 GDS-80 晶振測試儀以其高精度、多功能和智能化的特點(diǎn),為晶振測試提供了全面的解決方案。無論是提升產(chǎn)線效率,還是保障產(chǎn)品品質(zhì),GDS-80 均為您的理想選擇。立即聯(lián)系智慧源,獲取專屬測試解決方案!