儀器簡介：
我們的粒度和Zeta電位分析儀器, 利用超聲波在含有顆粒的連續相中傳播時，聲與顆粒的相互作用產生的聲吸收、耗散和散射所引起的損失效應來測量顆粒粒度及濃度，采用技術---多頻電聲學測量技術測量膠體體系的Zeta電位。對于高達50％（體積）濃度的樣品，無需進行樣品稀釋或前處理即可直接測量。甚至對于漿糊、凝膠、水泥及用其它儀器很難測量的材料都可用Zeta Probe 直接進行測量。
傳統方法要求稀釋樣品或進行其它的樣品處理，既費時又容易出錯，而的多頻電聲技術則可避免這些問題。超聲探頭（Zeta Probe）能直接在樣品的原始條件下測量zeta電位，允許樣品濃度高達50％（體積）。Zeta Probe 結構設計緊湊，外置的Zeta電位滴定裝置(可選配).自動滴定裝置可自動、快速地判斷等電點，可快速得到分散劑和絮凝劑。對粒度和雙電層失真進行自動校正。該儀器的軟件易于使用，通用性強，非常適用于科研及工廠的優化控制。
技術參數：
1. 粒徑由超聲波( Acoustic)方式 , Zeta 電位由電聲波( Electro Acoustic)方式
2. 樣品無需稀釋直接測定,測量固體含量范圍:1% ～ 50%
3. 樣品測量攪拌濃度:10,000cps
4. 樣品測量電位范圍:+/- 300mV或以上
5. 聲波范圍: 500～3000m/s
6. 頻率范圍: 1 to 100 MHz , multiple gap 自動掃描18個gap或以上
7. 粒徑測量: 5nm ～ 1000um
8. 可測量混合物之粒徑及Zeta電位 , 并可分析混合物之個別粒徑
9. 測量Zeta電位只需10ml或以下
10. 操作軟件功能:
- 需在Windows XP下操作
- 粒徑分布圖及累計圖
- 粒徑分布數據表含D10 , D50 , D90
- 數據庫可在 Windows Access中由使用者自由選取
- 使用者可自由選取聲波速度及衰減圖
- 任何兩個參數的散射圖
- 用戶定義自動選擇多數據系列Multiple data series automatically selected from user query
11.可選自動酸堿與濃度滴定裝置
12.可選自動測量粒徑及Zeta電位對pH變化
13.可以及時分析/顯示Zeta電位與等電點
14.可及時測量/顯示樣品pH值,電導率,溫度
15.可選數據資料處理與顯示系統:
Pentium 4 –3.0GHz或以上, 512 MB RAM, 80 GB, 19” LCD ,
Windows XP及 Office軟件 ( or Laptop computer
主要特點：
1.能分析多種分散物的混合體
2.無需依賴Double Layer 模式,精確地判定等電點
3.可適用于高導電（highly conducting）體系
4.可排除雜質及對樣品污染的干擾
5.可精確測量無水體系
6.Zeta電位測試采用多頻電聲測量技術，無需先測量粒度即可進行電位測量
7.樣品的濃度可達50％（體積比）,被測樣品無需稀釋，對濃縮膠體和乳膠可進行直接測量
8.具有自動電位滴定功能
突出優勢：
可以進行顆粒分布、動態遷移率、流變能力、孔徑和孔隙率、液體壓縮率、Zeta電位、雙電層厚度、電導率、pH和溫度以及表面電荷密度等方面的測定。
同時可以處理表征原濃分散體系的分析儀器；分散體系的近過程表征；原濃液分散體系的顆粒分布和ζ電位。
