產品介紹
第三代3DFAMILY X射線熒光分析儀，采用世界上的硅SIPIN探測器（分辨率為150ev），實現了無液態氮檢出器下高靈敏度的檢測功能。配備自動切換的濾光片及透射式X射線球管，zui大程度地縮小了X射線源與被測物體的間距，從而在較低的電壓下達到同樣的激發效率，同時減少了漫射光的干擾，大大地提高了靈敏度和讀數的準確性，重復性。
性能特點
◎高靈敏度---自動切換4種濾光片
在測定微量成分時，由于X射線管的連續X射線所產生的散射線會產生較大的背景，致使目標峰的觀測比較困難。為了降低或消除背景和特征譜線等的散射X射線對高靈敏度分析的影響，此熒光分析儀配置了4種可自動切換的濾光片，有效地降低了背景和散射X射線的干擾，調整出感度的輻射，進一步提高了S/N的比值，從而可以進行更高靈敏度的微量分析。
◎自動定性分析
A，自動過濾背景
X射線管的連續X射線所產生的散射線會產生較大的背景，軟件可自動過濾背景對分析結果的干擾，
從而能確保對任何塑料樣品的進行快速準確的分析。（詳見后頁背景效果比較圖）
B，自動剝離重疊峰
當某些元素的電子由高等級向低等級越遷時釋放的能量相近，會使此時譜圖的波峰重疊在一起，由
此產生了重疊峰。SCIENSCOPE自行開發的軟件自動剝離重疊峰，確保了元素分析的正確性。
C，自動補償逃逸峰
逃逸峰：由于采用的是Si針半導體探測器，因此當X射線熒光在通過探測器的時候，如果某種元素
的含量較高(能量也會相應的較高)，其被Si吸收的概率也就越大。此時，光譜圖中在該元素的能量
值減去Si能量值的地方回產生一個峰，此峰即為逃逸峰。
D，自動追蹤譜圖漂移
在電壓不穩的情況下，可對掃描譜圖的漂移進行自動追蹤補償。
◎定量分析
A，FP基礎參數法
B，標準法
C，1點校正
主要技術指標：
| 分析原理 | 能量色散X射線熒光分析法 | |||
| 分析元素 | Si～U（Cd/Pb/Cr/Hg/Br高精度型） | |||
| Na～U(任選：φ1.2mm/φ0.1mm切換方式型） | ||||
| 檢出下限 | Cd/Pb/Hg/Br/Cr≤5ppm | |||
| 樣品形狀 | zui大460×380mm(高150mm) | |||
| 樣品 | 塑料/金屬/紙/涂料/油墨/液體 | |||
| 樣品室氣氛 | 大氣 | |||
| X射線管 | 靶材 | Rh | ||
| 管電壓 | zui大50KV | |||
| 管電流 | zui大1mA | |||
| X射線照射徑 | | 1/3/5mm | ||
| 防護 | ＜0.1mR/Hr (輻射低于電腦屏幕） | |||
| 檢測器 | 硅SIPIN探測器 | |||
| 光學圖像觀察 | | 倍率15倍 | ||
| 軟件 | 定性分析：自動定性（自動去背景/自動剝離重疊峰/自動補償逃逸峰/自動補償譜圖漂移） | |||
| 照射徑：1/3/5mm | ||||
| 定量分析：基礎參數法/標準法/1點校正 | ||||
| 計算機 | CPU | PentiumIV1.8GHz以上 | ||
| 內存 | 256MB以上 | |||
| 硬盤 | 20GB以上 | |||
| OS | WindoP | |||
| 監視器 | 17寸LCD | |||
| 周圍溫度 | 10～35。C（性能溫度）/5～40。C（動作溫度） | |||
| 周圍濕度 | 5～31。C時溫度范圍：zui大相對濕度80%以下 / 31～40。C時溫度范圍：相對濕度50%以下 | |||
| 電源 | AC110V/220V±10%、50/60HZ | |||
| 消耗電力 | 1.3KVA以下（含計算機、LCD、打印機） | |||
| 設備重量 | 約65kg(不含桌子、計算機） | |||
| 外形寸法 | 600（W）×545（D）×435（H）mm | |||
