CMI900 X熒光鍍層測厚儀特點:
● 精度高、穩定性好
● 強大的數據統計、處理功能
● 測量范圍寬
● NIST認證的標準片
● 服務及支持

CMI900 X熒光鍍層測厚儀技術參數：
X射線激發系統
垂直上照式X射線光學系統
空冷式微聚焦型X射線管，Be窗
標準靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等
功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－標準? 75W(4-50kV，0-1.5mA)－任選
裝備有安全防射線光閘
二次X射線濾光片：3個位置程控交換，多種材質、多種厚度的二次濾光片任選
準直器程控交換系統
zui多可同時裝配6種規格的準直器
多種規格尺寸準直器任選：
－圓形，如4、6、8、12、20 mil等
－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等?
測量斑點尺寸
在12.7mm聚焦距離時，zui小測量斑點尺寸為：0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm準直器)
在12.7mm聚焦距離時，zui大測量斑點尺寸為：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm準直器)
樣品室結構： 開槽式樣品室
zui大樣品臺尺寸： 610mm x 610mm
XY軸程控移動范圍： 標準：152.4 x 177.8mm 還有5種規格任選
Z軸程控移動高度:? 43.18mm
XYZ三軸控制方式: 多種控制方式任選：XYZ三軸程序控制、XY軸手動控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動控制
樣品觀察系統:
高分辨彩色CCD觀察系統，標準放大倍數為30倍。50倍和100倍觀察系統任選。
激光自動對焦功能
可變焦距控制功能和固定焦距控制功能
計算機系統配置: IBM計算機,惠普或愛普生彩色噴墨打印機
分析應用軟件:? 操作系統：Windows2000中文平臺, 分析軟件包：SmartLink FP軟件包
測厚范圍:?可測定厚度范圍：取決于您的具體應用。
CMI900 基本分析功能:采用基本參數法校正。牛津儀器將根據您的應用提供必要的校正用標準樣品。
樣品種類：鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量) 可檢測元素范圍：Ti22 – U92
可同時測定5層/15種元素/共存元素校正
貴金屬檢測，如Au karat評價 材料和合金元素分析，材料鑒別和分類檢測液體樣品分析，如鍍液中的金屬元素含量 多達4個樣品的光譜同時顯示和比較元素光譜定性分析調整和校正功能: 系統自動整和校正功能，自動消除系統漂移 測量自動化功能鼠標激活測量模式：“PointShoot”
多點自動測量模式：隨機模式、線性模式、梯度模式、掃描模式、和重復測量模式
測量位置預覽功能 激光對焦和自動對焦功能 樣品臺程控功能: 設定測量點, 連續多點測量, 測量位置預覽(圖表顯示)
統計計算功能平均值、標準偏差、相對標準偏差、zui大值、zui小值、數據變動范圍、數據編號、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖 數據分組、X-bar/R圖表、直方圖
數據庫存儲功能 任選軟件：統計報告編輯器允許用戶自定義多媒體報告書
系統安全監測功能Z軸保護傳感器
樣品室門開閉傳感器 操作系統多級密碼操作系統：操作員、分析員、工程師