AD3000便攜式X熒光分析儀

我公司根據國內外冶金、地質等相關企業對礦產品品位快速分析的市場需求，合作開發了一系列監測生產過程的分析檢測儀器。其中AD3000便攜式X熒光分析儀是集當今電子技術、計算機技術和核分析方法于一體，具有微機化程度高、人機界面友好、分析精度高、分析速度快、性能價格比高等特點，成為相關企業進行生產控制和科學研究的*設備。適用于各有色、黑色礦山、選礦廠、冶煉廠、購礦企業、質檢站進行現場快速測量分析和地質勘探、作巖礦露頭現場測量、鉆孔巖蕊直接測量、坑道井壁測量和室內粉末測量.

2測量原理
    X光管產生的X射線與樣品中元素的原子相互作用，逐出原子內層電子，當外層電子補充內層電子時，會放出該原子所固有能量的X射線，稱之為特征X射線（X熒光）。各種元素的原子受激發后，在退激過程中放出的特征X射線能量各不相同，例如鐵的特征X射線（FeKα）能量為6.4KeV,銅的特征X射線(CuKα)能量為8.0KeV等等,依次可進行定性分析。在一定條件下，特征X射線的強度與元素含量（品位）成正比，依此可進行定量分析。
對于半無限大空間飽和厚度，并且表面均勻的樣品，當二次熒光可以忽略時，目標元素的特征X射線強度（IK）可以用下式表示：
IK=KI0Ck/(μ0/sinφ+μK/sinψ)式中：K為與探測器的激發效率有關的常數；I0為入射射線強度；Ck 為目標元素的含量；μ0為入射射線在樣品中的質量吸收系數；μK 為特征X射線在樣品中的質量吸收系數；φ為入射射線與樣品表面間的夾角；ψ為特征射線與樣品表面間的夾角。這是X射線熒光分析zui基本理論公式。在實際樣品分析時，由于樣品中物質成分差異，還應考慮基體效應校正，才能得到正確的結。

探礦儀 探礦設備 銅礦探礦儀 鐵礦探測儀 礦用直流電法儀
電阻率法儀價格 礦石分析儀 磁法儀器 磁法勘探 磁法勘探儀器
地質勘探儀器  電法勘探儀器 品位分析儀 鐵礦探礦儀 探礦磁力儀
磁力探礦儀 磁法探礦儀 礦石探測儀  鉛鋅礦探礦儀 金礦探礦儀 銀礦探礦儀
礦石檢測儀  礦石品位分析儀 礦石分析儀 高密度電法 高精度磁法勘探
電法探礦儀 電法勘探 高密度電法 電法勘探儀器 礦石元素分析儀
高密度電法儀 直流電法儀 礦石化驗儀器 磁法儀 探礦儀器 電阻率法儀
電法探礦儀 地質礦石檢測分析 電法儀 直流電法儀的價格 電法儀器