反射比測量原理
光源發出的光通過光纖和反射式積分球(InterSphere)在物體表面發生漫反射被特別設計的積分器收集，再通過積分球另外的一個接口送到分光光度計。不管樣品表面是絨面還是拋光的，所有的反射光和散射光都會被測量到。整體反射率用來測量制絨后和鍍膜后硅片的反射率。通過標準邏輯運算計算出您想要的顏色值xyY等
積分球的使用可以避免光譜儀的飽和，它的內表面是*的漫反射，具有非常均勻的空間非常均勻的空間反射特性，測量精度可以達到0.1%。
測量步驟，先收集外部環境光的光強，再將標準片置于積分球的采樣口測量存為參考，zui后將待測樣品置于采樣口測量，軟件會自動計算出反射比R%.
光譜儀: ASspec-UV/VIS高紫外靈敏度光譜儀 （200-1100nm）
光源： ASLight-HAL鹵鎢燈
光纖： FC-UV/VIS 譜段 FC光纖
積分球：ASsphere-50積分球,8度角采樣
AS-Solar5000是一款方便實用的絨面拋光面硅片反射率測試儀器,系統使用簡單，無需操作人員有專業的技能用戶可以在移動的硅片上進行連續性測量，也可以測量硅片上的固定點。可自動生成測試報告及數據存儲，用戶可自定義反射率zui大值，zui小值門限設置。可自定義測量波長范圍，儀器配備標準參考片。
＊積分球式整體反射率測量
＊zui低反射率波長
＊自動報告生成
＊平均反射率測量
＊顏色計算
規格
測量
測量參數 反射率光譜 / 膜厚 / 顏色
反射率范圍 0 ~ 100 %
波長范圍 200 ~ 1100 nm
反射率精度 ±0.1 %
反射率重復性* <0.05%
顏色測量 XYZ
硬件
測量幾何 積分球 （所有角度反射光的測量）
測量光斑 ~ 8 mm
測量速度 < 1 s / point
硅片大小 156 x 156mm / 125 x 125mm
樣品臺 320 x 320mm
環境溫度: 15-35°C （50-90°F）,
濕度: <90% （non-condensing）
電源 AC 100 ~ 240V; 50/60 Hz
PC / 軟件
測量功能 整體反射率測量/zui小反射率波長定位/顏色/膜厚
PC 要求 Windows XP, 2GB RAM
