涂鍍層厚度測量和/或成分分析，元素范圍 Ti - U •可同時進行多達15層元素成分分析 •測量方法符合ISO 3497，ASTM B568和DIN 50987 •CMIX射線系列測厚儀原產于美國，現已轉移至中國上海生產，是*的品牌產品，多年來CMI系列儀器在PCB及電鍍行業憑著高品質的產品及完善的售后服務在業界已形成一個行業的標準，華南地區90％以上的大型企業都在使用CMI900做為檢測鍍層厚度的工具。CMI900X射線測厚儀是一種功能強大的材料涂／鍍層測量儀器，可應用于材料的涂／鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領域，為產品質量控制提供準確、快速的分析。基于WindowsXP中文視窗系統的中文版SmartLinkFP應用軟件包，實現了對CMI900主機的全面自動化控制。 CMI900X-射線熒光鍍層厚度測量儀，在技術上一直以來都于*的測厚行業 A：CMI900能夠測量包含原子序號22至92的典型元素的電鍍層、鍍層、表膜和液體，極薄的浸液鍍層（銀、金、鈀、錫等）和其它薄鍍層。區別材料并定性或定量測量合金材料的成份百分含量可同時測定zui多5層、15種元素。 B：精確度于世界，精確到0.025um（相對與標準片） C：數據統計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式，以滿足您特定的分析報告格式要求；如在分析報告中插入數據圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。 D：統計功能提供數據平均值、誤差分析、zui大值、zui小值、數據變動范圍、相對偏差、UCL（控制上限）、LCL（控制下限）、CpK圖、直方圖、X-bar／R圖等多種數據分析模式。CMI900X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀各種尺寸的樣品； E：可測量任一測量點，zui小可達0.025x0.051毫米。 樣品臺選擇：CMI900采用開槽式樣品室設計，以方便對大面積線路板樣品的測量。它可提供五種規格的樣品臺供用戶選用，分別為： 一：手動樣品臺 1、標準樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。 2、擴展型標準樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。 3、可調高度型標準樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。 二：自動樣品臺 1、程控樣品臺：XYZ軸自動控制。 2、超寬程控樣品臺：XYZ軸自動控制。于接納超大尺寸樣品。
