日本電測 電解式膜厚計 CT-3 庫侖測厚儀
庫侖測厚儀 電解式膜厚計 CT-3
庫侖測厚儀 電解式膜厚計 CT-3
規(guī)格參數(shù)：
1．測量范圍：0.006～300 um
2．zui小分辯率：0.001 um
3．測量面積：3.4、2.4、1.7∮mm
4．速度：125、12.5、1.25nm/sec
5．測量單位：um、nm、二種
6．靈敏度調節(jié)：5段可調
7．體尺寸：200（W）*150（H）*150（D）mm
8．體重量：1.8kg
9．差可校正范圍：±15％
10．電壓：AC110V（220V）/50,60Hz
11.本機精度：1%
儀器特點：
可測金屬鍍層：金、銀、化學鎳、銦、硬鉻、裝飾鉻、鋅、 鎘、錫、 鉛、銅、鈷、鎳、鐵、多重鎳、黑鉻
可測合金鍍層：錫鋅合金、錫鉛合金、銅鋅合金、鎳鈷合金、鎳鐵合金
產(chǎn)品優(yōu)點:
1、各種鍍層（多層、合金）的精密測量；
2、除平板形外，還可以通過提供的圖表測量圓形、棒形（細線）等各種形狀
3、可高精度測量其它方式不易測量的三層以上的鍍層；
4、可制作非破壞式膜厚儀的標準板；
5、可檢查非破壞式膜厚儀的測量精度;
6、產(chǎn)品，精度提高，簡單易懂，操作及保養(yǎng)容易。
7、標準板校正值的計算和設定可自動進行；
8、三檔測量速度, 可以準確測量極薄鍍層厚度
9、可分離測量銅（合金）上的錫（合金）鍍層間的擴散（合金）層;
10、*的測量臺（電測公司）是利用條形彈簧方式,使操作方便簡單
