CIT-3000SM 能量色散X熒光分析儀

應用領域: 適用于礦山、選礦廠、冶煉廠、水泥等企業在生產過程中對產品質量進行監測

一、             CIT-3000SM 產品配置：

1 、采用進口的美國AMPTEK航天技術的SI（PIN）半導體探測器系列

2 、采用*數字脈沖采集電路及的電源管理技術

3 、采用進口X光管

4 、采用的X射線高壓發生器

5 、采用RS232串口通訊

6 、采用精密的系統控制電路和數字處理電路

7 、采用專有的分析算法軟件模塊V2.0A

8 、配備品牌電腦

9 、配備常用的制樣工具

10 、配備的壓片機

11 、配備的測試樣環

12 、配備的測試硬標樣

二、CIT-3000SM 技術指標：

1、分析元素范圍：Mg-U（主要是：Mg、Al、Si、P、S、Ca、Fe、Mn、Cu、Pb、Zn、Cr、Br、Cd）；

2、元素含量分析范圍：1ppm -99.99%（采用1024道多道分析器，分析精度更高）；

 3、采用美國航天技術的Si （PIN）半導體探測器計數，配合的數字脈沖處理技術；

4、測量范圍：1－30KeV； 

 5、管壓：0kV-30kV（激發源為 30KV-鎢靶微型X射線管）；

 6、管流：5μA-200μA；（可減少整機功耗和降低輻射）；

 7、整機功率：50W；

8 、整機能量分辨率：150±5eV；

 9、檢測時間： <200S；

 10、工作環境溫度：溫度0-40℃；

 11、工作環境相對濕度：≤99%（不結露）；

 12、測量物質狀態：固體、粉末均可檢測，制樣簡單；

13、一體化設計，性能穩定，運行可靠，性價比高；操作簡單，測量時間短；