數(shù)字IC測(cè)試儀 集成電路測(cè)試儀 TD-ICT-33C

功能特征


TD-ICT-33C集成電路測(cè)試儀:


可測(cè)1300種器件.


可對(duì)器件好壞判別,型號(hào)判別,老化測(cè)試,


器件代換查詢(xún),內(nèi)部RAM數(shù)據(jù)修改,


EPROM、EEPROM器件讀出寫(xiě)入.  數(shù)字IC測(cè)試儀 集成電路測(cè)試儀 TD-ICT-33C


功 能 參 數(shù)


主要功能


器件好壞判別：當(dāng)不知被測(cè)器件的好壞時(shí)，儀器可判斷其好壞。


器件型號(hào)判別：當(dāng)不知被測(cè)器件型號(hào)時(shí)，儀器可依據(jù)其邏輯功能來(lái)判斷其型號(hào)。


器件老化測(cè)試：當(dāng)懷疑被測(cè)器件的穩(wěn)定性時(shí)，儀器可對(duì)其進(jìn)行連續(xù)老化測(cè)試。


器件代換查詢(xún)：儀器可顯示有無(wú)邏輯功能*、引腳排列*的器件型號(hào)。


內(nèi)部RAM數(shù)據(jù)修改：ICT?/FONT>33C可從鍵盤(pán)對(duì)自己內(nèi)部RAM 中的數(shù)據(jù)進(jìn)行隨機(jī)修改。


EPROM、EEPROM器件讀入：ICT?/FONT>33C可將64K以?xún)?nèi)的EPROM、EEPROM器件內(nèi)的數(shù)據(jù)進(jìn)行讀入并保存。


EPROM、EEPROM器件寫(xiě)入：ICT?/FONT>33C可將內(nèi)部RAM中的數(shù)據(jù)寫(xiě)入到64K以?xún)?nèi)的EPROM、EEPROM器件中，并自動(dòng)校驗(yàn)。





可 測(cè) 器 件（1300多種）


CMOS40系列：103種。


CMOSMC140系列：103種。


CMOS45系列：60種。


CMOSMC145系列：60種。


光耦合器系列：133種。


TTL74/54系列：714種。


TTL75/55系列：82種。


數(shù)碼管系列：


0.5吋共陽(yáng)[001]；共陰[002]；0.3吋共陽(yáng)[003]；共陰[004]；0.7吋共陽(yáng)[005]；共陰[006]。


常用RAM系列：


2112 2114 2016 6116 6264 6225 6 60256 628128


EEPROM系列：


2816 2817 2864 28256 28040 29101


EPROM系列：


2716 2732 2764 27128 27256 27512


微機(jī)外圍電路系列：


8155 8156 8255 8253 8259 8212 8282 8283 8216 8816 8243 8226 8205 8286 8287 6820 6821 6880 6888 6887 6889 6810 6520 8254 8251 8279 8708 6840 8718 8728 Z8OCTC（8O2）


常用單片機(jī)系列：


8031 8032 8051 8052 8048 8039 8035 8049 8751 8752


其他系列：


2002 2003 2004 3486 3487 3459 2631 2632 2633 1831 1908 339 192 293 393 555 556 324 22100 2802 2803 2804 9637 9638 7831 7832 8831 8832 3 446MC1413（2003） MC1416（2004） MC14160（40160） DG201 MC14161（40161） MC14162（40162） MC14163（40163） TIL308 MC14189（75189） 2902（324） 8T26（826） AD7506

電路板故障維修測(cè)試儀

新型的GT4040UXP-Ⅱ可在WIN98，WIN2000，WIN XP 等系統(tǒng)下工作，帶有USB接口，雙CPU工作，速度更快，效率更高。可測(cè)三端器件，另外有俄羅斯庫(kù)，西門(mén)子庫(kù)，可定量測(cè)試L，C，R參數(shù),,可對(duì)運(yùn)算放大器，光耦，三端電源進(jìn)行測(cè)試。
。

產(chǎn)品特點(diǎn)：  
在維修各種電子設(shè)備時(shí)，您是否常因圖紙資料不全而束手無(wú)策？您是否常因高昂的維
修費(fèi)用而增添煩惱？

[GT]系列檢測(cè)儀幫助您解除電路板維修中的煩惱。配合電腦使用，全部智能化。它利
用電腦來(lái)彌補(bǔ)人工維修能力的不足，能夠在維修人員缺乏圖紙資料或不清楚電路板工作原
理的情況下，對(duì)各種類(lèi)型的電路板進(jìn)行ASA分析或ICT測(cè)試，在線檢測(cè)元器件好壞，迅速檢
測(cè)到電路板上故障元器件。簡(jiǎn)捷經(jīng)濟(jì)地修好各種類(lèi)型電路板。

產(chǎn)品特點(diǎn)：

◆*的測(cè)試技術(shù)，強(qiáng)大的驅(qū)動(dòng)能力，任何故障原因的電路板皆可修好
◆友好簡(jiǎn)單的中文操作界面，不經(jīng)專(zhuān)業(yè)訓(xùn)練，任何人均可成為維修專(zhuān)家
◆無(wú)需電路原理圖，不必知道器件型號(hào)，對(duì)任何電路板皆可快速維修
◆40×2路數(shù)字電路測(cè)試功能，備有TTL/CMOS/RAM及中規(guī)模集成電路數(shù)據(jù)庫(kù)；
◆40×2（ASA）V/I，曲線分析測(cè)試功能
◆電路板測(cè)試存儲(chǔ)功能，被測(cè)板可與之比較
◆與進(jìn)口同類(lèi)儀器比較，性?xún)r(jià)比更優(yōu)，操作更方便
◆通用于各類(lèi)雙列直插式封裝芯片，可為大中規(guī)模集成電路提供分析測(cè)試。
◆本功能亦可通過(guò)學(xué)習(xí)記錄，比較分析來(lái)測(cè)試。

技術(shù)規(guī)格：
Windows界面可在WIN98，WIN2000，WIN XP 等系統(tǒng)下工作
雙CPU工作，速度更快，效率更高。
功能測(cè)試40×2通道
VI曲線測(cè)試40×2通道
雙測(cè)試夾VI曲線測(cè)試
網(wǎng)絡(luò)提取 程控加電
EPROM/RAM在線讀取
模擬器件 VI曲線測(cè)試
總線隔離信號(hào)
中文維修筆記

一、序言
GT/ICT系列測(cè)試儀已推出近十年。一方面漸入人心，一方面用戶(hù)也有了更高的要求。我公司集多年不懈努力，成功研制出換代產(chǎn)品GT/ICT-Ⅱ系

列，把GT/ICT測(cè)試儀發(fā)展到了一個(gè)新的階段，能夠更好的滿(mǎn)足用戶(hù)的實(shí)際需求。
從測(cè)試技術(shù)方面來(lái)看，GT/ICT測(cè)試儀是“后驅(qū)動(dòng)”、“器件模擬端口分析（ASA）”測(cè)試技術(shù)的簡(jiǎn)單使用，而GT/ICT-Ⅱ系列是在跟隨這兩項(xiàng)技

術(shù)在上的發(fā)展，在總結(jié)了多年來(lái)的實(shí)際應(yīng)用經(jīng)驗(yàn)的基礎(chǔ)上重新設(shè)計(jì)而成，因而有更好的測(cè)試效果；從產(chǎn)品的軟、硬件實(shí)現(xiàn)技術(shù)方面來(lái)

看，GT/ICT軟件脫胎于DOS系統(tǒng)，主要由中小規(guī)模集成電路組成，而GT/ICT-Ⅱ系列*在Windows平臺(tái)上打造，大量采用了大規(guī)模EPLD、表面貼

裝器件等現(xiàn)代電路設(shè)計(jì)技術(shù)，因而具有更友好的人-機(jī)界面，更高的技術(shù)指標(biāo)和可靠性。  
全面提高技術(shù)水平的目的，是改進(jìn)、擴(kuò)充測(cè)試功能。為突出重點(diǎn)，首先在本文中介紹對(duì)兩個(gè)zui常用的測(cè)試功能：“ASA（VI）曲線測(cè)試”、“數(shù)

字器件在線功能測(cè)試”的改進(jìn)。（注意相同之處不再贅述，請(qǐng)參見(jiàn)GT/ICT測(cè)試儀的相關(guān)說(shuō)明）。我們將在以后的文章中，介紹其它方面的改進(jìn)

。
需要說(shuō)明的是，市場(chǎng)上的GT/ICT系列測(cè)試儀有幾個(gè)版本，總體水平差別不大，僅軟件界面形式略有不同。本文主要以其中一種作為參照。

二、對(duì)ASA（VI）曲線測(cè)試的改進(jìn)
2.1 大大擴(kuò)展了故障覆蓋范圍
這里擴(kuò)展范圍，是指GT/ICT測(cè)試儀不能測(cè)試，或測(cè)試效果不好，而GT/ICT-Ⅱ能夠測(cè)試，或測(cè)試效果有較大改進(jìn)。
2.1.1 測(cè)試三端器件
GT/ICT測(cè)試儀不能全面檢測(cè)三端器件的好壞。GT/ICT-Ⅱ*解決了這個(gè)問(wèn)題。
三端器件是指閘流管（可控硅）、MOS三極管、電壓調(diào)節(jié)器等具有三個(gè)引出端，以及光藕、繼電器等可以等效成三個(gè)引出端的器件。下面以閘流

管（可控硅）為例，來(lái)說(shuō)明GT/ICT-Ⅱ如何改進(jìn)了對(duì)此類(lèi)元件的測(cè)試。
用GT/ICT測(cè)試閘流管，當(dāng)ASA（正弦）測(cè)試信號(hào)加在它的陽(yáng)極和陰極之間時(shí)，控制端沒(méi)有信號(hào)，閘流管處于截止?fàn)顟B(tài)，所以從曲線上只能觀察到

截止?fàn)顟B(tài)是否正常（兩極之間是否短路、或有較大漏流），不能發(fā)現(xiàn)導(dǎo)通狀態(tài)是否正常。比如，會(huì)把陽(yáng)極和陰極開(kāi)路的故障誤判成截止?fàn)顟B(tài)正

常。
GT/ICT-Ⅱ設(shè)計(jì)了一個(gè)脈沖信號(hào)，測(cè)試時(shí)加在閘流管的控制端，控制閘流管在ASA（正弦）測(cè)試信號(hào)期間出現(xiàn)導(dǎo)通、截止兩種狀態(tài)，實(shí)現(xiàn)了對(duì)閘

流管進(jìn)行全面的檢測(cè)。
例1：用GT/ICT-Ⅱ測(cè)出的*閘流管的曲線

圖中橫線是否足夠水平反映了截止?fàn)顟B(tài)是否夠好、豎線是否足夠垂直反映了導(dǎo)通阻抗是否足夠小、豎線與縱軸的間距就是導(dǎo)通電壓的大小。

（GT/ICT測(cè)試儀只能測(cè)出一根水平線。）
測(cè)試不同的三端器件需要不同的控制方式——正弦波和脈沖的匹配（同步）形式。為了更好地滿(mǎn)足測(cè)試各種三端器件的不同要求，在GT/ICT-Ⅱ

上共設(shè)置了八種匹配方式——脈沖相對(duì)于正弦波的起始、結(jié)束位置及寬度、高度均可調(diào)整；支持單向觸發(fā)、雙向觸發(fā)。詳細(xì)情況請(qǐng)參見(jiàn)產(chǎn)品使

用說(shuō)明。
2.1.2 自動(dòng)曲線靈敏度調(diào)整
GT/ICT測(cè)試儀沒(méi)有ASA曲線對(duì)電路變化（故障）的自動(dòng)靈敏度調(diào)整功能，有些本該能夠檢測(cè)出來(lái)的故障因此不能發(fā)現(xiàn)。
我們來(lái)比較下面三組電阻的ASA曲線。

0.1K/0.15K 1K/1.5K 10K/15K
*組顯示了0.1K和0.15K電阻的VI曲線；第二組1K和1.5K；第三組10K和15K。盡管實(shí)際電路的相對(duì)變化大小*相同，但看上去中間兩條曲線

差別大，兩邊的要小得多。我們說(shuō)，中間組的曲線靈敏度高，而兩邊組的靈敏度低。由于ASA測(cè)試是通過(guò)曲線位置差異大小來(lái)發(fā)現(xiàn)故障的，所以

，在故障測(cè)試中很可能只判斷中間組有問(wèn)題。
可以證明，VI曲線的走向趨勢(shì)越接近45度，反映電路變化的靈敏程度越高；如果VI曲線是一個(gè)封閉圖形，曲線包圍的面積越大，靈敏度越高。
曲線的靈敏度與被測(cè)試點(diǎn)的特征和測(cè)試參數(shù)相關(guān)。依據(jù)具體的結(jié)點(diǎn)特征，調(diào)整測(cè)試參數(shù)，從而得到較高靈敏度的曲線，叫做調(diào)整VI曲線（關(guān)于

電路故障的）靈敏度。
GT/ICT-Ⅱ新增加了自動(dòng)曲線靈敏度調(diào)整功能。對(duì)于上面三種情況，在選中自動(dòng)靈敏度調(diào)整后，測(cè)到的三組曲線都和中間組一樣。
2.1.3 測(cè)試大電容
GT/ICT只能測(cè)試zui大約兩、三百微法的電解電容的好壞。GT/ICT-Ⅱ把檢測(cè)范圍擴(kuò)大到了兩萬(wàn)微法以上。
排查電路板上容量較大的電解電容的漏電、容量變化導(dǎo)致的故障，是一件相當(dāng)令人頭痛的事情。對(duì)維修測(cè)試來(lái)說(shuō)，利用ASA曲線測(cè)試進(jìn)行檢測(cè)可

能是的辦法。但是GT/ICT測(cè)試儀的測(cè)試范圍小，當(dāng)容量到幾百微法以上時(shí)，本該是一個(gè)橢圓的電容ASA曲線就蛻化成了一根短路線（所包圍

的面積趨于零），根本無(wú)法判別出好壞。GT/ICT-Ⅱ加寬了測(cè)試儀的技術(shù)指標(biāo)，對(duì)于高達(dá)兩萬(wàn)多微法的電容，都能測(cè)出一個(gè)包圍了相當(dāng)面積的橢

圓。
2.1.4 給同一器件的不同管腳設(shè)置不同的測(cè)試參數(shù)
GT/ICT沒(méi)有這個(gè)功能，導(dǎo)致對(duì)有的器件測(cè)試效果差，有的器件無(wú)法測(cè)試。
用GT/ICT測(cè)試儀測(cè)試一個(gè)有多個(gè)管腳的器件的曲線，所有管腳都只能使用同樣的測(cè)試參數(shù)，所有管腳都要依次測(cè)試一遍。但實(shí)際檢測(cè)中，確實(shí)

存在不同管腳使用不同測(cè)試參數(shù)，來(lái)保證測(cè)試效果，也存在個(gè)別管腳不允許測(cè)試的情況。
比如，集電極開(kāi)路器件7403的輸入是標(biāo)準(zhǔn)TTL電平，而輸出zui大耐壓可達(dá)32V，常用于驅(qū)動(dòng)數(shù)碼管、繼電器等。測(cè)試這種器件，測(cè)試輸入、輸出

腳的信號(hào)幅度要分別設(shè)置：對(duì)輸入應(yīng)設(shè)在略大于5V；對(duì)于輸出應(yīng)設(shè)置在略大于負(fù)載電壓，小于32V之間（比如驅(qū)動(dòng)12V數(shù)碼管時(shí)一般用15V），才

能達(dá)到全面檢測(cè)的目的。GT/ICT測(cè)試儀不能滿(mǎn)足這種使用要求。
還有，電路板上帶電池的存儲(chǔ)器里面有數(shù)據(jù)，在它的電源端、片選端不能加任何測(cè)試信號(hào)，否則會(huì)導(dǎo)致數(shù)據(jù)丟失。GT/ICT測(cè)試儀不能測(cè)試這類(lèi)

器件。
GT/ICT-Ⅱ測(cè)試儀考慮到了這些情況。允許分管腳設(shè)置測(cè)試參數(shù)，也允許不做測(cè)試的管腳。
2.2 大大提高了測(cè)試可靠性
測(cè)試可靠性是指測(cè)試結(jié)果能真實(shí)反映實(shí)際情況，不會(huì)導(dǎo)致用戶(hù)誤判故障的能力。
2.2.1 曲線穩(wěn)定性問(wèn)題
GT/ICT測(cè)試儀不能發(fā)現(xiàn)不穩(wěn)定曲線，會(huì)把好電路誤判為有故障。
即使電路**，也存在這樣的情況——在同一個(gè)管腳上，每次測(cè)到的曲線有明顯不同。這種情況叫做該處的曲線不穩(wěn)定。產(chǎn)生不穩(wěn)定

曲線的原因以及如何讓曲線穩(wěn)定下來(lái)的辦法請(qǐng)參見(jiàn)“電路在線維修測(cè)試儀上的ASA測(cè)試”。《設(shè)備管理與維修》2006.6,2006.7。但測(cè)試儀首先

要能夠把不穩(wěn)定曲線識(shí)別出來(lái)，然后才談得到處理，否則就可能把好電路誤判為有故障。
GT/ICT-Ⅱ能夠把不穩(wěn)定曲線識(shí)別出來(lái)，并且能具體指示出哪一個(gè)管腳上的曲線不穩(wěn)定，這無(wú)疑有助于提高測(cè)試結(jié)果的可靠性。
2.2.2 接觸問(wèn)題
使用測(cè)試夾學(xué)習(xí)ASA曲線的時(shí)候，器件管腳氧化、防銹涂層未打磨干凈、測(cè)試夾引腳磨損等原因，經(jīng)常造成夾子引腳與器件引腳接觸不上，結(jié)果

學(xué)習(xí)到了一條虛假的開(kāi)路曲線；比較曲線時(shí)也有同樣問(wèn)題。這種不可靠的曲線會(huì)導(dǎo)致誤判，所以在實(shí)際使用中，一旦發(fā)現(xiàn)開(kāi)路曲線，都要再次

確認(rèn)，比如打磨該引腳后重測(cè)。
問(wèn)題在于使用測(cè)試夾測(cè)試時(shí)，一次測(cè)試要處理許多條曲線。曲線多了以后，往往不能在一屏上一起都顯示出來(lái)。象GT/ICT測(cè)試儀那樣，靠人工

從許多條曲線中確認(rèn)有無(wú)開(kāi)路曲線，得來(lái)回翻屏或滾屏，不但效率低，而且容易漏檢。
GT/ICT-Ⅱ設(shè)計(jì)了自動(dòng)開(kāi)路曲線偵測(cè)、提示功能。在一次測(cè)試到的所有曲線中，只要存在開(kāi)路曲線，會(huì)給出多種提示信息。根據(jù)提示很容易找到

它在哪個(gè)管腳上，很難漏檢。
2.2.3 平均曲線
當(dāng)測(cè)試大量的相同對(duì)象（比如一批同樣的電路板或相同器件）時(shí)，使用從哪個(gè)好的電路板或器件上學(xué)習(xí)到的曲線作為參照標(biāo)準(zhǔn)為呢？
使用GT/ICT-Ⅱ測(cè)試儀，可以先學(xué)習(xí)幾個(gè)好的電路板或器件，得到多個(gè)文件，然后利用平均曲線功能，把這些文件中的曲線自動(dòng)求平均后，再自

動(dòng)生成一個(gè)新的曲線文件，作為以后的測(cè)試比較標(biāo)準(zhǔn)。該功能通常用于建立高質(zhì)量的標(biāo)準(zhǔn)曲線庫(kù)。
2.3 大大提高了使用效率
2.3.1 迅速發(fā)現(xiàn)并找到異常曲線（開(kāi)路、不穩(wěn)定、比較超差）
用測(cè)試夾進(jìn)行測(cè)試時(shí)，一次會(huì)提取、顯示出多條曲線。如何才能迅速判定這些曲線中是否有異常曲線（開(kāi)路、不穩(wěn)定、超差），并迅速找到異

常曲線呢？
使用GT/ICT，需要用戶(hù)把所有曲線逐一檢查一遍后進(jìn)行判斷。不但效率，而且容易漏判。為此，GT/ICT-Ⅱ增加了新的顯示手段。
1．前面已經(jīng)說(shuō)明，GT/ICT-Ⅱ能夠自動(dòng)檢測(cè)異常曲線。在一次測(cè)試中哪怕只有一條異常曲線，首先在屏幕上部顯著位置提示：有開(kāi)路曲線或有

不穩(wěn)定曲線或比較超差，以引起用戶(hù)注意；  
2．在學(xué)習(xí)曲線時(shí)，增加了按先異常、后正常排列方式，將異常管腳曲線排列在其它管腳曲線的前面；  
3．在曲線比較時(shí)，增加了按曲線誤差大小順序排列的方式，自動(dòng)將誤差較大的曲線排在前面（由于比較時(shí)主要關(guān)心超差曲線）；
4．打開(kāi)管腳列表窗口，直接提示在管腳號(hào)的旁邊。
2.3.2 測(cè)試曲線
一次測(cè)試了多條管腳曲線后，可能對(duì)某個(gè)管腳曲線有疑問(wèn)，或不太滿(mǎn)意。比如，有異常曲線，要進(jìn)行適當(dāng)處理（比如對(duì)開(kāi)路曲線，打磨該管腳

）后重測(cè)；或者想修改某條曲線的設(shè)置參數(shù)后，再重測(cè)該條曲線，觀察其變化。使用GT/ICT-Ⅱ，在做完處理后，你只要用鼠標(biāo)雙擊某曲線，就

將僅僅測(cè)試這條曲線，其它曲線*不受影響。方便、快捷。
2.3.3 由管腳號(hào)查找曲線
當(dāng)一次測(cè)試的曲線較多，一屏顯示不下時(shí)，要來(lái)回翻屏或滾屏才能查看某個(gè)管腳的曲線，影響效率。GT/ICT-Ⅱ增加了直接從管腳號(hào)查找曲線的

功能。只要在腳號(hào)列表窗口中雙擊某腳號(hào)，就自動(dòng)把該管腳的曲線移到屏幕顯示區(qū)，并用彩色框框起來(lái)。十分快捷。
2.3.4 聲音提示
雙探棒直接對(duì)照測(cè)試方式相當(dāng)常用。用GT/ICT進(jìn)行測(cè)試時(shí)，每測(cè)試一個(gè)引腳，要先低頭——把兩個(gè)探棒穩(wěn)定接觸在相應(yīng)被測(cè)管腳上，然后再抬

頭看屏幕——確認(rèn)對(duì)照結(jié)果，一上一下，有人開(kāi)玩笑稱(chēng)為“雞啄米”。當(dāng)處理的腳數(shù)多時(shí)，相當(dāng)辛苦且影響效率。
GT/ICT-Ⅱ上設(shè)置了聲音提示。只要比較不超差（這是大多數(shù)情況），計(jì)算機(jī)就發(fā)出“嗒嗒”的提示聲，類(lèi)似于使用萬(wàn)用表的BEEP擋，基本解決

了這個(gè)問(wèn)題。
2.4 大大改善了人-機(jī)界面友好程度
2.4.1 三種曲線坐標(biāo)
GT/ICT只在電壓(V)-電流坐標(biāo)(I)上顯示器件的端口特征曲線，這也是通常把ASA測(cè)試叫做VI曲線測(cè)試的原因。但對(duì)有的測(cè)試結(jié)果，換一種坐標(biāo)

可能更容易理解曲線所反映的電路問(wèn)題。這就好比解析幾何中有直角坐標(biāo)系、又有極坐標(biāo)系一樣。
GT/ICT-Ⅱ測(cè)試儀提供三種坐標(biāo)：電壓(V)-電流(I)坐標(biāo)、時(shí)間(T)-電壓(V)坐標(biāo)和電壓(V)-電阻(R)坐標(biāo)。下面給出*閘流管在兩種不同坐

標(biāo)下的曲線。

電壓(V)-電流(I)坐標(biāo) 時(shí)間(T)-電壓(V)坐標(biāo)
注意右邊的曲線。在測(cè)試（正弦）信號(hào)的四分之一處，控制極上的觸發(fā)信號(hào)使閘流管導(dǎo)通，曲線變成一段水平線。水平線距橫軸的距離就是閘

流管的飽和電壓。
2.4.2 在曲線上提示參數(shù)（Tooltips）
把鼠標(biāo)光標(biāo)放在曲線上，GT/ICT-Ⅱ利用Tooltips技術(shù)顯示出光標(biāo)處的參數(shù)。十分方便。請(qǐng)參見(jiàn)上圖。
2.4.3 管腳命名
GT/ICT在管腳曲線上提示的管腳號(hào)只是阿拉伯?dāng)?shù)，并且所有管腳只能按數(shù)字順序一維排列。這在有些時(shí)候極為不方便。
比如，有的器件管腳是兩維排列的。橫著數(shù)是a、b、c……，豎著數(shù)是1、2、3……。b3表示位于第二列，第三行的管腳；有的電路板外引腳有

上百個(gè)，對(duì)有的特別引腳會(huì)有專(zhuān)門(mén)標(biāo)識(shí)—常見(jiàn)的是標(biāo)識(shí)它上面的信號(hào)名稱(chēng)。如果只能用一維數(shù)字作為管腳名，查找起來(lái)極為不便。
GT/ICT-Ⅱ既能夠自動(dòng)對(duì)管腳按一維排列方式分配管腳序號(hào)，也允許用戶(hù)給管腳命名。序號(hào)和用戶(hù)命名同時(shí)提示在相應(yīng)曲線上。查找起來(lái)非常方

便。
2.4.4 自定義曲線顯示顏色
不同人對(duì)顏色有不同偏好。長(zhǎng)期工作在不舒服的顏色下易于疲勞。GT/ICT-Ⅱ允許用戶(hù)修改曲線、坐標(biāo)、字符、背景等的顏色設(shè)置。為自己營(yíng)造

一個(gè)較為舒服的工作環(huán)境。

三、對(duì)數(shù)字器件在線功能測(cè)試的改進(jìn)
數(shù)字器件在線功能測(cè)試，是指對(duì)電路板上的器件直接進(jìn)行邏輯功能好壞的檢測(cè)。對(duì)這項(xiàng)功能的改進(jìn)主要包括三個(gè)方面：
1．加強(qiáng)對(duì)測(cè)試條件的檢查能力；
2．加強(qiáng)用戶(hù)對(duì)測(cè)試過(guò)程的控制；
3．加強(qiáng)對(duì)被測(cè)試器件的在線工作環(huán)境的識(shí)別能力。
通過(guò)上述改進(jìn)，有效提高了測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性。

3.1對(duì)測(cè)試條件檢查能力的加強(qiáng)
3.1.1 接觸檢查
測(cè)試夾與被測(cè)器件接觸不好可能會(huì)造成錯(cuò)誤測(cè)試結(jié)果。GT/ICT-Ⅱ在檢查到測(cè)試夾引腳對(duì)地電阻大于約1M歐時(shí)，會(huì)提示接觸不良（開(kāi)路）。
不過(guò)提示開(kāi)路不一定總有接觸問(wèn)題。比如使用在線測(cè)試功能，測(cè)試處于離線狀態(tài)的CMOS器件時(shí)，由于這種器件的輸入阻抗很高，所有輸入腳都

會(huì)判成開(kāi)路。
實(shí)用中如果測(cè)試失敗并且提示有開(kāi)路狀態(tài)，應(yīng)確認(rèn)是否屬于正常情況。如果測(cè)試成功，一般可忽略。
3.1.2 電源電壓檢查
這項(xiàng)測(cè)試要求必須給被測(cè)電路板加電。TTL器件的標(biāo)稱(chēng)工作電壓是5V±5%。電源電壓不達(dá)標(biāo)有可能導(dǎo)致器件工作不正常。GT/ICT-Ⅱ在測(cè)試前會(huì)

自動(dòng)檢查器件上的電壓是否達(dá)標(biāo)。當(dāng)電源電壓超*，將給出警告提示；
3.1.3 非法電平檢查
本測(cè)試儀僅支持5V的TTL、CMOS器件的測(cè)試。正常情況下器件所有管腳上的電平值總在大于0V，小于5V之間。但對(duì)一個(gè)有故障的電路板來(lái)說(shuō)，什

么情況都有可能發(fā)生。GT/ICT-Ⅱ在測(cè)試時(shí)一旦檢測(cè)到器件上有超過(guò)電壓區(qū)間20%的電平值，將立即給以提示。為了安全起見(jiàn)，不再繼續(xù)測(cè)試下

去。
3.2對(duì)用戶(hù)控制測(cè)試過(guò)程的加強(qiáng)
3.2.1 調(diào)整閾值電平
當(dāng)TTL器件的輸出低于0.8V，說(shuō)它輸出為低（電平）；高于2.4V，說(shuō)它輸出為高（電平）。這里的0.8V，2.4V就是TTL的低、高標(biāo)準(zhǔn)閾值電平。

大致上說(shuō)，器件的高電平越高，低電平越低越好。GT/ICT的閾值電平是做死的，不能調(diào)整。GT/ICT-Ⅱ從硬件上進(jìn)行了擴(kuò)充，允許用戶(hù)修改閾值

電平。比如，允許設(shè)為0.5V，3.0V進(jìn)行測(cè)試。
這是一項(xiàng)很有價(jià)值的改進(jìn)。實(shí)用經(jīng)驗(yàn)表明，使用在線維修測(cè)試儀測(cè)試一個(gè)真正好的TTL數(shù)字器件，它的高電平會(huì)遠(yuǎn)高于標(biāo)準(zhǔn)高閾值2.4V，低電平

比標(biāo)準(zhǔn)低閾值0.8V低很多。究其原因，可能是在線維修測(cè)試儀的測(cè)試速度比器件的實(shí)際工作速度低很多，分布參數(shù)造成的負(fù)載輕很多；反之，

如果測(cè)試到一個(gè)器件的高、低電平很接近標(biāo)準(zhǔn)閾值，這往往表示該器件的驅(qū)動(dòng)能力已明顯下降，雖然能通過(guò)測(cè)試，但不能保證上機(jī)正常工作，

換掉。
3.2.2 修改測(cè)試頻率
GT/ICT-Ⅱ的測(cè)試頻率分4檔可選：45Ktv/S，20Ktv/S，5Ktv/S，1 Ktv/S（Ktv/S=千條測(cè)試向量/每秒）。缺省值為20Ktv/S。實(shí)際測(cè)試時(shí)，可根

據(jù)具體情況選用。比如74HC類(lèi)低功耗器件，測(cè)試失敗后可降低速度再試一次。
3.2.3 加電延遲時(shí)間
在進(jìn)行測(cè)試時(shí)，GT/ICT-Ⅱ自動(dòng)控制給電路板加電——測(cè)試一個(gè)器件的瞬間接通電源，測(cè)試完成后關(guān)斷。這樣的好處是避免用戶(hù)誤操作損壞電路

扳，帶來(lái)的問(wèn)題是由于電路板上一般有較大電源濾波電容，加電后，電路板上的電源電壓是逐步上升的，需要延遲一段時(shí)間后才能達(dá)到預(yù)期值

。不同大小的電路板需要的延遲時(shí)間不同。所以GT/ICT-Ⅱ允許用戶(hù)設(shè)定接通電源延遲多長(zhǎng)時(shí)間后開(kāi)始測(cè)試。
3.3對(duì)器件在線工作環(huán)境識(shí)別能力的加強(qiáng)  
測(cè)試電路板上的器件時(shí)必須使用適當(dāng)?shù)母綦x技術(shù)來(lái)消除關(guān)聯(lián)器件對(duì)被測(cè)試器件的影響。后驅(qū)動(dòng)隔離技術(shù)專(zhuān)門(mén)用于數(shù)字器件的在線測(cè)試隔離。
后驅(qū)動(dòng)技術(shù)有一定的使用條件，不滿(mǎn)足這些條件就會(huì)由于隔離不成功而測(cè)試失敗，把好器件測(cè)成壞器件。對(duì)在線器件工作環(huán)境的識(shí)別，就是盡

量把影響后驅(qū)動(dòng)技術(shù)正確使用的情況檢查出來(lái)，避免誤判。
3.3.1后驅(qū)動(dòng)技術(shù)原理及應(yīng)用中的問(wèn)題
后驅(qū)動(dòng)技術(shù)是美國(guó)人在上世紀(jì)60年代發(fā)明的。可簡(jiǎn)單說(shuō)明如下：
電路結(jié)點(diǎn)一般由器件的一個(gè)輸出和若干個(gè)輸入組成。參見(jiàn)圖一。設(shè)測(cè)試U3，就要在U3各輸入腳所在的電路結(jié)點(diǎn)上施加測(cè)試信號(hào)。由于決定結(jié)點(diǎn)

電位的是器件輸出而不是輸入，參見(jiàn)圖中的X結(jié)點(diǎn)，在該結(jié)點(diǎn)上加信號(hào)實(shí)質(zhì)上是如何驅(qū)動(dòng)U1的、與X引腳關(guān)聯(lián)的輸出，使它能夠根據(jù)測(cè)試要求為

高或?yàn)榈汀3的輸出可以直接取回來(lái)。
假定X結(jié)點(diǎn)當(dāng)前狀態(tài)為低電平，怎樣把它驅(qū)動(dòng)至高電平呢？參見(jiàn)圖二給出的TTL器件的典型輸出結(jié)構(gòu)。

輸出低電平時(shí)，Q1截止，Q2飽合，這個(gè)低電平就是Q2的飽合壓降，約在0.3V以下。Q2的飽和條件為：β2*Ib2>>Ic2。通過(guò)測(cè)試儀給Q2的集電極

注入一個(gè)足夠大的電流，使Ic2變得很大，Q2脫離飽合，它的輸出就會(huì)升起來(lái)。問(wèn)題在于Q2上的功耗：P=Ic2*Vce2 會(huì)隨Ic2、Vce2的增加迅速增

加到P > Pcm（zui大額定功耗）。這是否會(huì)損壞Q2呢？后驅(qū)動(dòng)技術(shù)證明，只要驅(qū)動(dòng)時(shí)間不超過(guò)26毫秒，不會(huì)有問(wèn)題。在發(fā)達(dá)，滿(mǎn)足這個(gè)時(shí)間

要求的在線測(cè)試儀器允許用于設(shè)備。
對(duì)于輸出為高而要驅(qū)動(dòng)為低的情況，分析方法相同，只是把向Q2集電極灌電流改為從Q1發(fā)射極拉電流。
從以上對(duì)后驅(qū)動(dòng)技術(shù)的說(shuō)明可以看出：
1．后驅(qū)動(dòng)技術(shù)用于隔離數(shù)字器件之間的關(guān)聯(lián)對(duì)測(cè)試的影響；
2．假定一個(gè)電路結(jié)點(diǎn)由一個(gè)輸出多個(gè)輸入組成；
3．被測(cè)試器件上不能有其它邏輯信號(hào)；
4．不能處理異步時(shí)序電路。
然而在實(shí)際電路板上，確實(shí)存在著數(shù)字器件和非數(shù)字器件關(guān)聯(lián)（比如數(shù)字器件輸出驅(qū)動(dòng)晶體管基極、運(yùn)放驅(qū)動(dòng)數(shù)字器件輸入）、一個(gè)電路結(jié)點(diǎn)

上有不止一個(gè)數(shù)字器件輸出（比如數(shù)據(jù)總線）、被測(cè)器件上有其它邏輯信號(hào)（比如板上有晶振）等等。這些情況經(jīng)常會(huì)影響后驅(qū)動(dòng)技術(shù)的正確

使用（一般稱(chēng)作隔離不開(kāi)），會(huì)導(dǎo)致不正確的測(cè)試結(jié)果。
3.3.2 對(duì)和非數(shù)字器件相關(guān)聯(lián)的處理
這種情況造成隔離失敗的原因，主要是結(jié)點(diǎn)電位被非數(shù)字器件鉗死，或者驅(qū)動(dòng)信號(hào)被非數(shù)字器件吸收，加不上去（也相當(dāng)于電平被鉗位）。下

圖中給出了兩種常見(jiàn)的結(jié)構(gòu)。

GT/ICT-Ⅱ能把這些情況識(shí)別出來(lái)，以管腳狀態(tài)的形式提示給用戶(hù)，當(dāng)器件測(cè)試失敗后，供用戶(hù)進(jìn)一步分析。GT/ICT-Ⅱ能夠識(shí)別出6種與此相關(guān)

的管腳狀態(tài)：
電 源：恒高且為電源腳；
恒 高：不可驅(qū)動(dòng)至低于高閾值；
不可高：不可驅(qū)動(dòng)至高于高閾值；
不可低：不可驅(qū)動(dòng)至低于低閾值；
恒 低：不可驅(qū)動(dòng)至高于低閾值；
地 ：恒低且為地腳。
3.3.3 對(duì)多輸出結(jié)點(diǎn)的處理
對(duì)多輸出結(jié)點(diǎn)通常要用總線競(jìng)爭(zhēng)屏蔽信號(hào)（GUARD信號(hào)）去解除非被測(cè)試器件的輸出對(duì)被測(cè)器件輸出的影響。有的版本的GT/ICT測(cè)試儀沒(méi)有

GUARD信號(hào)、有的版本只有1、2個(gè)GUARD信號(hào)—－這在許多情況下不夠用；有的版本的GUARD信號(hào)不可控，僅是通過(guò)一個(gè)小電阻接到電源上——這

不符合后驅(qū)動(dòng)技術(shù)的要求，會(huì)損壞被屏蔽器件。（詳細(xì)說(shuō)明請(qǐng)參閱有關(guān)文章）
GT/ICT-Ⅱ設(shè)置了8個(gè)*后驅(qū)動(dòng)技術(shù)的要求GUARD信號(hào)，并且用戶(hù)可控。
3.3.4 對(duì)板上有邏輯信號(hào)的處理
電路板上的邏輯信號(hào)可能干擾正確測(cè)試。GT/ICT-Ⅱ在測(cè)試前會(huì)進(jìn)行檢查。如果在被測(cè)器件的管腳上發(fā)現(xiàn)有邏輯信號(hào)，會(huì)作為一種管腳狀態(tài)“有

翻轉(zhuǎn)”提示出來(lái)。由于這種情況可能影響、也可能不影響測(cè)試結(jié)果，所以當(dāng)測(cè)試成功后，可忽略；當(dāng)測(cè)試失敗時(shí)，才需要用戶(hù)處理。
3.3.5輸入浮動(dòng)
管腳狀態(tài)“輸入浮動(dòng)”一般情況下是該管腳懸空。除非該管腳直接與電路板的插腳相連，否則意味著該腳斷線。盡管這并不影響對(duì)該器件的測(cè)

試，但它反映了電路板上一個(gè)可能的故障，所以也作為一種管腳狀態(tài)提示出來(lái)。
3.4 提高測(cè)試準(zhǔn)確性的一般方法
從以上討論可以看出，受測(cè)試條件、器件工作環(huán)境的影響，在線測(cè)試的結(jié)果有一定的不確定性。從進(jìn)口測(cè)試儀產(chǎn)品來(lái)看，主要通過(guò)兩種辦法來(lái)

提高測(cè)試的準(zhǔn)確性：
1．加強(qiáng)對(duì)影響測(cè)試結(jié)果的外部因素的識(shí)別能力。在測(cè)試儀產(chǎn)品上的具體體現(xiàn)，就是高檔的測(cè)試儀能識(shí)別的管腳狀態(tài)種類(lèi)多，低檔的能識(shí)別的狀

態(tài)少。比如某進(jìn)口測(cè)試儀能識(shí)別約15種、GT/ICT-Ⅱ能識(shí)別約11種、GT/ICT大約僅4、5種。
2．由于在線測(cè)試的不確定性，把整個(gè)測(cè)試過(guò)程盡量詳細(xì)的顯示出來(lái)，供用戶(hù)結(jié)合測(cè)試結(jié)果進(jìn)行進(jìn)一步分析，這幾乎可以說(shuō)是在線測(cè)試的基本設(shè)

計(jì)原則之一。GT/ICT-Ⅱ比較好的貫徹了這個(gè)原則。遺憾的是某些國(guó)產(chǎn)測(cè)試儀的設(shè)計(jì)者沒(méi)有真正理解這一點(diǎn)，有些測(cè)試功能僅給出“測(cè)試通過(guò)”

、或“測(cè)試失敗”的提示，測(cè)試過(guò)程幾乎沒(méi)有提示。

四、結(jié)語(yǔ)
電路在線維修測(cè)試儀所依據(jù)的技術(shù)原理并不復(fù)雜，但是依據(jù)同樣這些技術(shù)做出的測(cè)試儀產(chǎn)品卻是千差萬(wàn)別，而且許多差別，是在你比較深入的

了解了這項(xiàng)技術(shù)，有了相當(dāng)?shù)氖褂媒?jīng)歷后才能體會(huì)得到。希望本文能對(duì)進(jìn)一步了解這種產(chǎn)品提供幫助。

產(chǎn)品名稱(chēng)：垂直振蕩器振蕩器 產(chǎn)品型號(hào)：HVS-06

垂直振蕩器振蕩器型號(hào)：HVS-06

儀器介紹  
HVS系列垂直振蕩器振蕩頻率，振蕩時(shí)間可調(diào)，樣品支架可以適合多種 規(guī)格的分液漏斗，多可以同時(shí)處理8個(gè)樣品，能大幅度提高工作效率，減輕工作強(qiáng)度。產(chǎn)品使用靈活，操作方便，滿(mǎn)足多種場(chǎng)合的應(yīng)用。  
HVS系列垂直振蕩器振蕩頻率利用振動(dòng)幅度大，速度快之優(yōu)勢(shì)達(dá)到了液液萃取式混合的目的。既保證了樣品處理的*性，又大大降低了檢驗(yàn)員的勞動(dòng)強(qiáng)度。  
主要特點(diǎn)  
1.運(yùn)行平穩(wěn)，低噪音。  
2. 樣品托架可以自由滑動(dòng)，安放或取下樣品簡(jiǎn)單方便。  
3. 振蕩速度和運(yùn)行時(shí)間用液晶屏顯示，直觀簡(jiǎn)潔。  
4. 振蕩速度為無(wú)極速度，啟動(dòng)和變速都有緩沖功能，減少對(duì)樣品容器的沖擊。  
技術(shù)參數(shù)
名稱(chēng)HVS-6
轉(zhuǎn)速40～300r/min
振幅40mm
功率300W
外形尺寸560x440x520（LxWxH）
重量52kg