UM-5彩屏帶A掃描功能測厚儀
產(chǎn)品特性：測厚儀
產(chǎn)品簡介：涂層測厚儀 我廠生產(chǎn)的UM-5彩屏帶A掃描功能測厚儀可以使用戶在屏幕上能直接看到彩色超聲信號波型（ 或A掃描），這對于需要驗(yàn)證厚度讀數(shù)是否正確的場合是至關(guān)重要的
| 品牌 | 國產(chǎn) | 型號 | UM-5 | 所在地 | 湖北武漢 |
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涂層測厚儀 我廠生產(chǎn)的可以使用戶在屏幕上能直接看到彩色超聲信號波型（ 或A掃描），這對于需要驗(yàn)證厚度讀數(shù)是否正確的場合是至關(guān)重要的
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| 我廠生產(chǎn)的UM-5彩屏帶A掃功能測厚儀可以使用戶在屏幕上能直接看到彩色超聲信號波型 （ 或A掃描），這對于需要驗(yàn)證厚度讀數(shù)是否正確的場合是至關(guān)重要的。許多情況會引發(fā)錯(cuò)誤的 厚度讀數(shù)甚至無讀數(shù)，根據(jù)波形能輕松找到問題所在，然后根據(jù)波形僅需 對增益（GAIN）、 消隱（BLANKING）、閘門（GATE）這三個(gè)參數(shù)做適當(dāng)調(diào)整，就可得到正確的厚度讀數(shù)。 波形的用處：根據(jù)波形驗(yàn)證厚度讀數(shù)，根據(jù)波形找到問題所在，根據(jù)波形尋求解決之道，根據(jù) 波形調(diào)整參數(shù)解決問題。 | |
| 如果你遇到了普通測厚儀不能解決的問題，請選擇我們的UM-5，它能zui大限度的解決各種測厚難題，為您提供高性價(jià)比的解決方案。 原理講解 采用脈沖—回波法原理的普通超聲波測厚儀需要滿足以下兩個(gè)條件才能成功測量： 1. *底面回波要高于閘門（閘門電平高度是固定的不可調(diào)節(jié)）。 2. *底面回波前沒有其它雜波高于閘門（否則測出的將是產(chǎn)生雜波處的厚度）。 有時(shí)許多情況無法滿足上述要求，例如近表面高度腐蝕、粗晶材料（如鑄鐵）、鋁材料、小直徑管、超薄板、超厚板、表面粗糙、材料內(nèi)部的不均勻、內(nèi)含缺陷、疊片結(jié)構(gòu)等等，普通超聲波測厚儀將無能為力。 UM-5可輕松解決上述問題： 1. 可以通過調(diào)整增益和閘門高度，使*底面回波高于閘門。 2. 可以通過消隱功能使*底面回波前的其它雜波無效。 以前的棘手難題迎刃而解。 實(shí)時(shí)彩色A-掃描（Live Color A-Scan） 用戶在屏幕上能直接看到彩色超聲信號波型（或A掃描），這對于需要驗(yàn)證厚度讀數(shù)是否正確的場合是至關(guān)重要的。許多情況會引發(fā)錯(cuò)誤的厚度讀數(shù)甚至無讀數(shù)，根據(jù)波形能輕松找到問題所在，然后根據(jù)波形僅需對增益（GAIN）、消隱（BLANKING）、閘門（GATE）這三個(gè)參數(shù)做適當(dāng)調(diào)整，就可得到正確的厚度讀數(shù)。 波形的用處：根據(jù)波形驗(yàn)證厚度讀數(shù)，根據(jù)波形找到問題所在，根據(jù)波形尋求解決之道，根據(jù)波形調(diào)整參數(shù)解決問題。 增益調(diào)整（GAIN） 調(diào)整儀器對回波信號的放大倍數(shù)，允許以ldB 為單位手動(dòng)增加或減少。這個(gè)功能對聲衰減材料（比如金屬鑄件）的測量是非常有效的。 消隱功能（BLANKING） 使紅色消隱條范圍內(nèi)的波形無效，可以略去影響測量的 有害雜波，比如因材料表面粗糙或內(nèi)部不均勻引起的噪聲。 利用消隱條略去前面的噪聲 閘門高度可調(diào)（GATE） 只有回波高于閘門時(shí)，儀器才認(rèn)為接收到了回波，才會有測量值。可見閘門高度可調(diào)的重要性，尤其是在應(yīng)對低回波信號的應(yīng)用中更是如此（比如超薄板、超厚板的測量）。 紅色箭頭 A-掃描模式有一個(gè)紅色箭頭指示測量點(diǎn)，厚度讀數(shù)就是該點(diǎn)的橫坐標(biāo)。它可幫助判斷厚度讀數(shù)是否正確，正確測量時(shí)，紅箭頭應(yīng)該指向*底面回波前沿。 用PT04探頭測0.5mm薄板的波形圖 范圍（RANGE） 調(diào)整顯示在屏幕上的波形范圍，視覺上波形被壓縮或展開。如果沒有正確的設(shè)置顯示范圍，回波波形可能出了顯示區(qū)域而看不到，但仍能正確地顯示測量值。 平移（DELAY） 調(diào)整顯示在屏幕上的波形的起始位置，視覺上波形被水平移動(dòng)。如果沒有正確的設(shè)置平移，回波波形可能出了顯示區(qū)域而看不到，但仍能正確地顯示測量值。范圍和平移功能可將波形的任何一部分放大顯示在屏幕上。 | |
