CDX-Ⅲ多功能磁粉探傷儀
產品概述:
磁粉檢測技術是zui常用的無損檢測方法之一,它主要檢測鐵磁性材料表面和近表面的缺陷。表面缺陷的危害性比內部缺陷危險性更大,因此,表面缺陷的檢測刻不容緩。
磁粉檢測發現的缺陷都是微米級的缺陷,磁粉照明裝置顯得尤為重要,我公司在原有儀器的基礎上,對以往產品的照明部分做了很大的改進,采用了高亮度LED照明裝置,亮度強,不易爆破,讓缺陷無處可逃。
產品特點:
靈敏度高,國家A1型試片能全部清晰顯示。(如照片所示)
磁粉游動性好,易于吸附在缺陷表面。
采用高亮度LED照明,避免了以往缺陷漏檢現象。
采用高亮度LED照明后,光源不會因磁懸液的飛濺而爆破。
攜帶方便,方便高空、野外作業。
探傷后不需要退磁。
技術參數:
提升力:交流磁軛≥
探頭極距:交流磁軛(D型)探頭,固定式為
探頭工作電壓:均為38V 。
靈敏度:磁軛,旋轉磁場,磁鉗型和環型探傷時均可清晰顯示30/