日本KETT LZ-200J 涂層測厚儀 膜厚計特點：
本儀器采用了磁性和渦流兩種測厚方法，可無損的測量磁性金屬基體（如鐵、合金和硬磁性鋼等）上非磁性覆層的厚度（如銅、鋁、鉻、琺瑯、橡膠、油漆等）及非磁性金屬基體（如銅、鋁、鋅、錫等）上的非導電覆層的厚度（如琺瑯、橡膠、油漆、塑料等）內置打印機，可打印數據，有四個統計功能。
日本KETT LZ-200J 涂層測厚儀 膜厚計
特點： 本儀器采用了磁性和渦流兩種測厚方法，可無損的測量磁性金屬基體（如鐵、合金和硬磁性鋼等）上非磁性覆層的厚度（如銅、鋁、鉻、琺瑯、橡膠、油漆等）及非磁性金屬基體（如銅、鋁、鋅、錫等）上的非導電覆層的厚度（如琺瑯、橡膠、油漆、塑料等）。內置打印機，可打印數據，有四個統計功能。
LZ-200J測定方法電磁式及高頻渦流式測定對象磁性金屬上非磁性涂鍍層及非磁性金屬上絕緣層測定范圍電磁式：0～1500um或0～60.0mils高頻式：0～800um或0～32.0mils測定精度電磁式：<15um±0.3um >15um±2%高頻式：<50um±1um >50um±2%分辨率<100um 0.1um >100um 1um界限設定可設定上/下限數值測試單位公/英制互換顯示方式LCD數顯操作面板密封防水按鍵附屬品鐵基體/鋁基體/校正標準片/電池/皮套/說明書電源DV3V 主機5#堿性電池×6個 打印機5#堿性電池×4個體積80（W）×80（D）×30（H）重量1100g
