梅特勒XP微量天平
XP26/XP56
1.采用高精度高分辨率后置式傳感器，滿足用戶高精度的稱量需求
2.天平校驗功能（BalanceCheck），自動提示用戶使用外置砝碼校正/校準天平，確保稱量結果始終準確
3.GWPExcellenceTM一體化安全功能，確保天平始終正確工作
4.優化天平適應性的稱量參數設置，滿足不同稱量環境要求
5.*可拆卸，清晰的內部和外部玻璃防風罩設計
梅特勒XP微量天平
XP26/XP56
1. 采用高精度高分辨率后置式傳感器，滿足用戶高精度的稱量需求
2. 天平校驗功能（BalanceCheck），自動提示用戶使用外置砝碼校正/校準天平，確保稱量結果始終準確
3. GWPExcellenceTM一體化安全功能，確保天平始終正確工作
4. 優化天平適應性的稱量參數設置，滿足不同稱量環境要求
5. *可拆卸，清晰的內部和外部玻璃防風罩設計，實現天平的快速清潔
6. 豐富的內置稱量應用程序：基礎稱量、統計功能、配方稱量、計件稱量、百分比稱量、密度測量、差重稱量
| 型號 | XP26 | XP26DR | XP56 | XP56DR |
| zui大稱量值（g） | 22 | 5.1/22 | 52 | 11/52 |
| 可讀性（mg） | 0.001 | 0.002/0.01 | 0.001 | 0.002/0.01 |
| 重復性（sd）（mg） | 0.0025 | 0.002/0.008 | 0.006 | 0.002/0.014 |
| 線性誤差（mg） | 0.006 | 0.01 | 0.02 | 0.03 |
| 典型穩定時間（s） | 3.5 | 3.5/2.5 | 3.5 | 3.5/2.5 |
| 秤盤尺寸（mm） | 40*40 | 40*40 | 40*40 | 40*40 |
DU=雙量程；sd=標準偏差
