HY（IC）IC卡動態(tài)彎扭試驗機設(shè)備
本儀器針對IC卡在國標(biāo)GB/T 16649.1等試驗標(biāo)準(zhǔn)中的彎曲、扭矩的試驗; HY（IC）IC卡動態(tài)彎扭試驗機設(shè)備采用先進的同步帶傳動，非接觸式光電計數(shù)，15工位同時測量大大提高的儀器的精度和使用壽命。
HY（IC）IC卡動態(tài)彎扭試驗機設(shè)備圖片
HY（IC）IC卡動態(tài)彎扭試驗機設(shè)備主要技術(shù)參數(shù)
外形尺寸：長×寬×高（670×380×220mm）
儀器重量：70kg
電壓：AC220V±5%
功率：35W
測試速度：彎曲30r/min
測試周期：1~9999次
彎曲度；長邊20 mm，短邊10 mm
扭曲度：15°±1°雙向
HY（IC）IC卡動態(tài)彎扭試驗機設(shè)備產(chǎn)品用途：用于檢測磁條卡，IC芯片卡，集成電路卡，等卡的彎曲和扭曲性能測試。
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4.常年供應(yīng)設(shè)備的易損件及耗品確保儀器能長期使用
