Thermal probe system熱掃描探針系統,聯用AFM顯微鏡,既能實現AFM探針常規輕敲和接觸掃描,獲得高清晰度的圖像,同時能夠實現樣品熱學性質的探測。尤其適用于高分子材料組分熱學性質評估。
模塊性能:
可以同時實現樣品表面形貌掃描和材料相關熱學性能測試
1) 溫度;
2) 溫度梯度變化曲線;
3) 定性熱導率;
4) 相變溫度;
5) 定性熱容量;
模塊優勢:
1)高性價比,能實現熱學掃描及熱學性質測試的功能,價格僅為其為同類產品的一半;
2)精細測量,能達到20nm區域測溫;
3)耐高溫,針尖在700℃高溫下也不易變形;
模塊掃描機制:
應用領域:
Thermal Probe system適用于太陽能電池、有機發光材料研究、發光器件以及其它對高分子熱學性質探測、高分子組分特點研究等各個領域。