Advantest （日本愛德萬）Q8344A  光譜分析儀簡介：

●連續測連續測量
●1.5秒/掃描的高速測量
●0.35μm到1.75μm的寬波長范圍
●0.1nm的波長測量精度



Q8344A光譜分析儀
Q8344A是具有0.35到1.75μm的寬波長范圍的光譜分析儀。
在傅立葉光譜系統中,邁克爾遜干涉儀的應用使單色器的離散光譜系統所不能進行的連續分析成為可能。它顯示了評估CD和視頻光盤的激光二極管的能力。
作為參考波長的內置HE-NE激光器可以識別±0.1nm(1.3nm) 的波長精度，甚至在不經過波長校準的情況下也可以保證*的測量穩定性。



Q8344A提供了zui大0.05nm(在0.85μm)的波長分辨率，適合于測量窄模式間隔的激光二極管。不論分析的跨度多少，測量速度進約為1.5秒（在0.4μm到1.05μm和0.8μm到1.75μm），使它可以作為系統一部分。
Q8344A具有全面的顯示、分析和處理功能，它可以對諸如激光二極管和LED之類的光發射元件以及光纖和濾波器光元件進行特性測量。



連續測量
由于Q8344A使用了邁克爾遜干涉儀，它可以進行連續測量。這項功能使它可以輕松地對視頻光盤的激光二極管的回光所引起的噪聲抑制進行評估，分析范圍大約為±10mm。

1.5秒/掃描的高速測量
Q8344A采用傅立葉頻譜系統，因而對任何的測量跨度和靈敏度都可以在1.5秒內完成測量。(提供起始波長是0.4μm或更長并 且測量不能同時覆蓋短的波長和長波長)。因此，分析儀適合于測量生產線上的激光二極管和LED，并且可以評估光纖和濾波器的傳輸和損耗的特征。
當作為系統組成部分時，分析儀只需要1.5秒就可以完成觸發，測量和數據輸出。

0.05nm的zui大波長范圍
在短波長(0.85μm)時Q8344A提供0.05nm的zui大分辨率，使它可以以全分解振蕩模式依次對CD和可視光激光二極管進行測量。

大量規光纖輸出（選件）
200μm大量輸出可以作為選件使用。當分析波長大于標準光纖量規(GI50μm)的裝置時，可選用此選件。對激光二極管分析，*標準50-μm規格，對LED分析，*選用規格。

技術指標
波長：


測量范圍 0.35~1.75μm
zui大分辨率*1 近似為0.05nm(0.85μm)
近似為0.1nm(1.31μm)
精度 ±0.1nm(波長顯示為真空中的值)
帶寬 0.1~140nm/DIV

電平


測量范圍（輸入靈敏度） -70dBm到+10dBm(0.7~1.6μm)
-60dBm到+10dBm(0.45~1.7μm)
-45dBm到+10dBm(0.35~1.75μm)
zui小電平在經過16次平均的50nm帶寬處
精度 ±2.0dB或更少（0.85μm或1.31μm的波長處）
線性度*2 ±1.0dB/25dB或更少
±0.5dB/10dB或更少
標度 0.2，0.5，1.0，2.0，5.0，10.0dB/DIV和線性

處理功能


測量時間*3 1.5秒或更少(單一模式，平均：1，觸發到數據輸出)
存儲功能 32頁(測量數據) 10頁(測量條件)帶備用電池
顯示 全屏，分屏(上部和下部)，三維顯示，光標功能
計算/分析 連續分析(±10.4nm）；
正常化(損耗/傳輸)平均；
自動峰值搜索；
半寬度測量；
*測量條件自動設置

輸入和輸出


輸入連接器 FC型內部光纖標準：G150μm；選件10：SI 200μm 選件10：SI 200μm
數據輸出 GPIB作為標準配備 直接繪圖儀輸出*4 內置打印機(選件01)

*1分辨率為第N個數據點與第(N+1)個數據點之間的波長差值
*2去輸入為0dBm或更低時
*3起始波長為0.4μm或更低,并且測量不覆蓋短波長和長波長
*4適用的繪圖儀有R9833和TR9832(愛德萬)7475A，7440A和7470A(HP)。

標準附件


產品名稱 類型 描述
功率電纜 A01402 1
打印機紙 A09075 5卷(包括在選件01中)

選件
選件01：內置打印機 顯示器上所顯示的數據硬拷貝
打印系統：熱敏式打印行點系統
打印速度：8秒或者更少
記錄紙：A09075
紙寬：114nm
選件10：200μm光纖輸入(訂購是請確認)

一般指標：
工作環境：
溫度：-10~+40℃濕度85%RH或更小(不需要冷凝)
存儲環境：
溫度：-10~+50℃，濕度：90%RH或更少(不需要冷凝）
電源要求： 198~250VAC，48~66Hz,180VA或更少
尺寸：近似424mm(寬)×221mm(高)×550mm(長)
質量：zui大27kg(包括打印機選件)