雙棱鏡干涉實驗儀 型號:ZXTSLJ-Ⅰ庫號:M356816 查看hh觀察光的干涉現象,一種分波前光路實驗雙光束干涉的方法; 用雙棱鏡干涉測量光波波長; 學會雙棱鏡干涉光路的共軸調節方法;4、學會用測WEI目鏡測WEI小長度。1、儀器的組成:雙棱鏡、可調狹縫、凸透鏡、毛玻璃屏、測WEI目鏡、半導體激光器、短焦距擴束透鏡、光具座、滑座等;2、采用導軌長度為1000mm;3、測WEI目鏡量程:8mm,放|大|率:15x.ZUI小讀數:0.01mm,測量精度:<0.01mm;4、可調狹縫,調節范圍:0-5mm;5、凸透鏡:f=150mm;6、波長為650nm半導體激光器;7、帶刻尺的滑座; 選配鈉燈及白光光源