一、儀器概述
本儀器適用于390～700nm波長范圍內對合金鋼及有色金屬合金進行看譜分析，主要分析元素有：
（1）鋼中：W Mn V Mo Ni Co Ti Al Nb Zr Cu等。
（2）銅合金中：Zn Ni Mn Fe Pb Sn Al Be Bi 等。
（3）鋁合金中：Mg Cu Fe Zn 等。
儀器適用于較大試樣或不能被破壞的機件進行牌號的分類工作。
二、工作原理
電極與試樣之間激發的電弧使試樣中的原子處于激發狀態，產生各種元素的*光譜，通過單色器在目鏡中可看到從紫到紅的譜線，觀察某元素的特征光譜，就可以決定該元素是否存在。譜線亮度的大小，就可判別元素含量的高低，從而決定該材料的牌號。
儀器的光學系統簡圖如下圖所示：
RJGP-8型攜帶看譜儀光學系統簡圖
1．保護玻璃 2.反射鏡 3.聚光鏡 4.入射狹縫 5.物鏡
6. 光柵 7.反射鏡 8.物鏡 9.光欄 10.目鏡
輻射光通過保護玻璃1在照明反射鏡2上反射，由聚光鏡3使入射狹縫4上得到均勻的照明。狹縫位于物鏡5的焦面上，光線經物鏡變成平行光射向光柵6，經光柵色散后分解成單色光，逆向通過物鏡，單色光經過轉向反射鏡7由一組物鏡8使譜線成像在光欄9上，10是目鏡，通過它即可觀察到清晰的譜線。
三、技術參數
（1）觀察光譜范圍：390----700nm
（2）色散元件：平面衍射光柵，2400條/mm
（3）線色散倒數：2.78 nm/mm
（4）物鏡：焦距F=150 mm，D/f=1:5
（5）目鏡放大倍數：15倍
（6）圓棒電極外徑：Φ6 mm
（7）圓盤電極外徑：Φ34 mm
（8）入縫寬度：0.018（單位）
（9）主機外形尺寸：340×120×150（mm）
（10）主機重量：2.2Kg
四、結構特點
（1）采用光柵作色散元件，譜線清晰明亮，色散均勻。
（2）儀器結構合理，重量輕、便于外出攜帶。
（3）不用打開蓋子，直接可取出入射狹縫，清潔狹縫上的灰塵十分方便。
（4）儀器短小，適用于1米以上的物體進行看譜分析工作，對料架上的工件，橋梁，鐵塔等高空作業尤為合適。
五、操作前準備
（1）工作地點應有220V/50Hz的單相交流電源，所允許的Z大電流強度應大于10安培。并應有可靠的接地線。
（2）鐵質棒狀電極的*應仔細磨光，這可用砂輪或砂紙磨光。銅質圓盤電極表面同樣要清潔。
（3）如果用銅質電極分析鑄件中的含硅量，電極表面只能在氧化鋁的砂輪上磨光，而不得用二氧化硅砂輪。
（4）被分析物表面應清除油漆層、氧化層、被腐蝕表面及所有缺陷痕跡。
（5）為了保障安全，地上放上絕緣橡皮，操作者腳穿膠底皮鞋。
六、操作說明及注意事項
1、操作說明
（1）連接好電源線及其他導線，上下扳動電源開關，指示燈應亮。
（2）裝上電極、放好試樣。
（3）按下儀器上的按鈕，讓電極與試樣接觸一下，并迅速拉開，保持極距2毫米左右這時應看到電弧產生。
（4）把波長手輪轉到550nm處，然后調節亮度手輪，使亮度達到狀態。
（5）轉動目鏡，使譜線達到Z清晰狀態。找到要分析元素的譜線，對譜線進行觀察。
（6）通過觀察光譜，將被測光譜線移到視場中心（即箭頭指標），根據光譜，找出該分析相對應的目測譜線強度相等的比較線，即可確定某元素的含量百分比。
在強烈陽光下工作，會增加譜線背景。在有風的時候觀察譜線，電弧會漂移，視場中會看到譜線或明或暗的閃動，這二種情況均會使譜線對比帶來困難，應設法避免。錐型電極，電弧漂移小，譜線穩定，圓盤電極電弧漂移大，譜線穩定性會稍差，極距越大，這種現象越厲害。
2、注意事項
（1）電弧產生時，不得接觸電極。更換電極時，應切斷電源。
（2）調節極距，必須切斷電源才能進行。
（3）下雨天，不得在露天和濕地上使用本儀器。
（4）使用儀器時手帶絕緣手套，腳穿絕緣膠鞋。
（5）被雨淋或由于溫度改變而受潮的儀器不應立刻使用。
（6）儀器應由專業人員維修，嚴禁觸摸光柵。
（7）本儀器在―25℃至＋35℃之間都可應用，相對濕度＜80%。
（8）發現保護玻璃污損，影響通光應給予調換。
（9）弧光對人眼有害，請勿長期對弧光進行觀察。
（10）請勿在沒有試樣或沒有電極的狀態下進行激發。
（11）儀器背后的熱排風口不應有障礙物，以保證正常的散熱。
（12）經常檢查地線與外殼是否相通，以保安全。
七、儀器的維護
1、儀器的維護
（1）本儀器能適用于工廠及場地上比較差的條件下使用，但它是精密光學儀器，故要適當維護。儀器應輕拿輕放，防止碰撞。安放時要放得穩妥，且不要放到潮濕的地方，使用完畢要清除儀器外部的油污和灰塵，在任何時候不能用油手或汗手觸及光學零件。目鏡上的鏡片易沾上灰塵，注意保護，若是落上灰塵，可用軟毛刷刷去，油污可用脫脂棉紗布，蘸小量的酒精和混合液檫凈。儀器的上蓋板不得私自打開，儀器應放干燥處，長期不用，本箱中應放干燥劑，以免光學零件發霉而影響儀器的使用壽命。
（2）視場中出現一條橫的黑線是由于灰塵在入射狹縫上造成的，此時應取出入射狹縫，用放大鏡觀察，并且用狼毫筆在狹縫上輕輕掃去灰塵。
（3）儀器的棒狀電極及圓盤電極應保持筆直狀態，否則會影響視場的亮度。
